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J-GLOBAL ID：200903046136597120

解析装置、顕微鏡、および、解析プログラム

Inventor：
福田 陽子

About 福田 陽子

, 
佐瀬 一郎

About 佐瀬 一郎


Applicant, Patent owner：
株式会社ニコン

About 株式会社ニコン


Agent (2)： 古谷 史旺 ,  森 俊秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005011834
Publication number (International publication number)：2006200987
Application date： Jan. 19, 2005
Publication date： Aug. 03, 2006
Summary：
【課題】 経時変化する標本のスペクトル解析を良好に行うことができる解析装置、顕微鏡、および、解析プログラムを提供する。【解決手段】 標本の経時変化に伴って取得した画像データである複数のフレームの各々のフレームを構成する最小単位である各ピクセルのスペクトルデータを取得し、1以上のスペクトルデータに基づいて、マッチング検索用の基準スペクトルデータを決定し(S1)、基準スペクトルデータを用いて、各々の前記スペクトルデータに対するマッチング検索(S3)を行う。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
標本の経時変化に伴って取得した画像データである複数のフレームの各々のフレームを構成する最小単位である各ピクセルのスペクトルデータを取得する取得手段と、 1以上の前記スペクトルデータに基づいて、マッチング検索用の基準スペクトルデータを決定する決定手段と、 前記基準スペクトルデータを用いて、各々の前記スペクトルデータに対するマッチング検索を行う検索手段とを備えた ことを特徴とする解析装置。
IPC (2)：
G01N 21/64 ,  G02B 21/00
FI (3)：
G01N21/64 B ,  G01N21/64 E ,  G02B21/00
F-Term (29)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA03 ,  2G043GA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA04 ,  2G043LA02 ,  2G043LA07 ,  2G043NA01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC26 ,  2H052AC34 ,  2H052AF07 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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