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J-GLOBAL ID:200903046165899143
状態表示方法及び状態表示装置
Inventor:
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,
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井島 藤治 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996059300
Publication number (International publication number):1997251364
Application date: Mar. 15, 1996
Publication date: Sep. 22, 1997
Summary:
【要約】【課題】 複数の状態を参照するための操作を容易にし、複数の状態を組合わせて視認性の良い表示を行なえるようにする。【解決手段】 計測内容及び判定内容の手順並びに判定結果の一覧表示の形式の設定を行う設定手段11,12,13と、前記設定手段により予め定められた手順に従って複数の計測を実行する計測手段14と、前記計測手段により得られた複数の計測値のそれぞれについて、前記設定手段により予め定められた判定を行う判定手段15と、前記判定手段により得られた判定結果を、前記設定手段により予め定められた形式で一覧表示する表示手段19,20と、を備えたことを特徴とする。
Claim (excerpt):
予め定められた手順に従って複数の処理を起動し、これら複数の処理によって得られた結果を一覧表示することを特徴とする状態表示方法。
IPC (4):
G06F 3/14 320
, G06F 3/14 310
, A61B 5/055
, A61B 8/00
FI (4):
G06F 3/14 320 A
, G06F 3/14 310 A
, A61B 8/00
, A61B 5/05 380
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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特開平4-096740
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超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-349900
Applicant:株式会社日立メディコ
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