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J-GLOBAL ID:200903046465118747

3次元計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 杉本 修司 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995350522
Publication number (International publication number):1997178437
Application date: Dec. 21, 1995
Publication date: Jul. 11, 1997
Summary:
【要約】【目的】オーバーハング部分を有する3次元形状の被計測物を非接触で不可視領域なく計測することができる3次元計測装置を提供する。【構成】被計測物(歯模型)1は相異なる2つの姿勢で取り付けられ、それぞれ回動軸まわりの複数の回動位置に支持台4により設定されるので、計測手段2により、被計測物1の3次元形状を光の不可視領域なく正確に計測することができる。
Claim (excerpt):
3次元形状の被計測物を支持して一定の回動軸まわりの複数の回動位置に設定する支持台と、被計測物に光を前記回動軸と直交する方向に照射して、その形状を計測する計測手段とを備え、前記支持台は、被計測物を相異なる2つの姿勢で取り付ける取付部を有している3次元計測装置。
IPC (4):
G01B 11/24 ,  A61C 13/34 ,  A61C 19/04 ,  G01B 21/00
FI (4):
G01B 11/24 C ,  A61C 13/34 Z ,  G01B 21/00 H ,  A61C 19/04 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 3次元形状測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-316709   Applicant:光洋精工株式会社

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