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J-GLOBAL ID：200903046499606732

表面状態を判定するための装置およびプログラム

Inventor：
江口 純司

About 江口 純司

, 
村上 学

About 村上 学


Applicant, Patent owner：
本田技研工業株式会社

About 本田技研工業株式会社


Agent (1)： 特許業務法人オカダ・フシミ・ヒラノ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004228097
Publication number (International publication number)：2006047098
Application date： Aug. 04, 2004
Publication date： Feb. 16, 2006
Summary：
【課題】検査対象物における傷その他の表面状態の判定を効率的に行う。【解決手段】検査対象物の表面状態判定装置は、対象物の予め定めた複数の部位のそれぞれについて、該部位における所定の表面状態を学習したデータマップを記憶する記憶手段と、対象物を撮像する撮像手段と、を備える。該装置は、撮像手段から取得した対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を含むよう検査領域を設定する。該検査領域から特徴ベクトルを抽出する。対象物の複数の部位のうち、該検査領域が属する部位を判断して、該部位に対応するデータマップを選択する。特徴ベクトルを該選択されたデータマップに入力して、該検査領域が所定の表面状態を含むかどうかを判定する。こうして、個々のデータマップの容量を抑制して、判定時間の増大を防ぐ。【選択図】図10
Claim (excerpt)：
検査対象物の表面状態を判定する装置であって、 前記対象物の予め定めた複数の部位のそれぞれについて、該部位における所定の表面状態を学習した判定データマップを記憶する記憶手段と、 前記対象物を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段から取得した前記対象物の画像において、他の領域に対し予め定めたしきい値を超える輝度差を有する要判定領域を含むよう検査領域を設定する手段と、 前記検査領域から特徴ベクトルを抽出する手段と、 前記複数の部位のうち、前記検査領域が属する部位を判断して、該部位に対応するデータマップを選択する手段と、 前記特徴ベクトルを前記選択されたデータマップに入力して、該検査領域における所定の表面状態を判定する判定手段と、 を備える装置。
IPC (2)：
G01N 21/88 ,  G01N 21/952
FI (2)：
G01N21/88 J ,  G01N21/952
F-Term (15)：
2G051AA07 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CD07 ,  2G051DA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  2G051ED04 ,  2G051ED21
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 特許出願公開番号昭63-201556
  • 特許出願公開番号2002-109541
Cited by examiner (6)
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