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J-GLOBAL ID：200903046651333151

高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置及びその高感度検出方法

Inventor：
今坂 藤太郎

About 今坂 藤太郎


Applicant, Patent owner：
科学技術振興事業団

About 科学技術振興事業団


Agent (1)： 清水 守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998139590
Publication number (International publication number)：1999329345
Application date： May. 21, 1998
Publication date： Nov. 30, 1999
Summary：
【要約】【課題】 試料ガスを噴出(生成)する軸と生成したイオンを飛行・検出する軸を一致させることにより、分子密度の低下を抑え、分析感度の向上を図り得る高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置及びその高感度検出方法を提供する。【解決手段】 試料ガスを導出するノズル1と、このノズル1の近傍で効率よくイオン化できる領域3と、この領域3において前記ノズル1の方向に対して垂直に配置されるイオン加速手段と、前記ノズル1と同軸方向に導出されるイオン5と、前記ノズル1と同軸方向に配置され前記イオン5を検出する検出装置とを具備する。
Claim (excerpt)：
高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置において、(a)試料ガスを導出するノズルと、(b)該ノズルの近傍で効率よくイオン化できる領域と、(c)該領域において前記ノズルの方向に対して垂直に配置されるイオン加速手段と、(c)前記ノズルと同軸方向に導出されるイオンと、(d)前記ノズルと同軸方向に配置され前記イオンを検出する検出装置とを具備することを特徴とする高感度超音速分子ジェット多光子イオン化質量分析装置。
IPC (2)：
H01J 49/10 ,  H01J 49/40
FI (2)：
H01J 49/10 ,  H01J 49/40
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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