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J-GLOBAL ID：200903046685080503

超音波撮像装置及び超音波撮像方法

Inventor：
辻田 和宏

About 辻田 和宏

, 
佐藤 智夫

About 佐藤 智夫


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (2)： 渡部 温 ,  宇都宮 正明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003064488
Publication number (International publication number)：2004160156
Application date： Mar. 11, 2003
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：
【課題】高いサンプリングレートで超音波画像を得るために同時に複数の超音波ビームを送受信するマルチビーム方式を採用しつつ、複数の方向から反射される超音波エコー間のクロストークを低減することができる超音波撮像装置を提供する。【解決手段】この超音波撮像装置は、超音波ビームを送受信する超音波用探触子13と、被検体の複数のブロックをそれぞれ走査する複数の超音波ビームの走査開始角度又は走査方向を含む走査条件を個別に設定する走査条件設定手段27と、走査条件設定手段によって設定された走査条件に従って、超音波用探触子に供給される複数の駆動信号に遅延を与える送信側信号処理手段10〜12と、超音波エコーの受信によって得られる複数の検出信号を処理することにより、被検体に関する画像情報を得る受信側信号処理手段15、16、18〜23とを具備する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
超音波撮像装置であって、 複数の駆動信号に従ってそれぞれ動作する複数の超音波トランスデューサによって超音波ビームを形成して被検体に送信すると共に、被検体から反射される超音波エコーを受信する超音波用探触子と、 被検体の複数のブロックをそれぞれ走査する複数の超音波ビームの走査開始角度又は走査方向を含む走査条件を個別に設定する走査条件設定手段と、 前記走査条件設定手段によって設定された走査条件に従って、前記超音波用探触子に供給される複数の駆動信号に遅延を与えることにより、前記超音波用探触子から送信される複数の超音波ビームによって被検体の複数のブロックをそれぞれ走査させる送信側信号処理手段と、 超音波エコーの受信によって得られる複数の検出信号を処理することにより、被検体に関する画像情報を得る受信側信号処理手段と、 を具備する超音波撮像装置。
IPC (3)：
A61B8/00 ,  G01N29/26 ,  G01S15/89
FI (3)：
A61B8/00 ,  G01N29/26 503 ,  G01S15/89 B
F-Term (47)：
2G047BA03 ,  2G047CA01 ,  2G047DA02 ,  2G047DB02 ,  2G047DB14 ,  2G047EA04 ,  2G047EA07 ,  2G047EA09 ,  2G047GB02 ,  2G047GB17 ,  2G047GF17 ,  2G047GF23 ,  2G047GF32 ,  2G047GF33 ,  2G047GF34 ,  2G047GG21 ,  2G047GH08 ,  2G047GH09 ,  4C601BB03 ,  4C601BB07 ,  4C601EE04 ,  4C601EE08 ,  4C601GB06 ,  4C601GB07 ,  4C601HH14 ,  4C601HH15 ,  4C601HH16 ,  4C601HH27 ,  4C601HH28 ,  4C601HH31 ,  4C601JB02 ,  4C601JB03 ,  4C601LL05 ,  5J083AA02 ,  5J083AB17 ,  5J083AC11 ,  5J083AC28 ,  5J083AC30 ,  5J083AD13 ,  5J083AE08 ,  5J083BC01 ,  5J083BD01 ,  5J083BD12 ,  5J083CA01 ,  5J083CA12 ,  5J083CA13 ,  5J083DC05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (11)
  • 特許第6179780号
  • 特許第6179780号
  • 超音波診断画像走査方法および該走査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-284393   Applicant：アドバンスト・テクノロジー・ラボラトリーズ・インコーポレイテッド
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