液晶セルパラメータ検出方法及び装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：岡田英彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997248824
Publication number (International publication number)：1999084335
Application date： Sep. 12, 1997
Publication date： Mar. 26, 1999
Summary：

【要約】【課題】簡単な構成で、短時間に精度よく液晶層の厚みや液晶分子の配向の捩れの角度等の液晶セルパラメ-タを検出することができる液晶セルパラメ-タ検出方法及び装置を提供する。【解決手段】偏光板4の偏光方向をX軸方向とし、液晶セル3を透過した光の透過光強度が極値(最大値または最小値)となる位置に液晶セル3を回転させ、その時の透過光強度Ixを測定する。次に、偏光板4の偏光方向をY軸方向とした時、X軸及びY軸と45度の角度をなすようにした時、偏光板4の偏光方向をX軸及びY軸と45度の角度をなすようにした状態で偏光板4と液晶セル3との間に1/4波長板5をその軸方向を偏光板4の偏光方向に対して45度傾けて挿入した時の透過光強度Iy、I45、Iq45を測定する。そして、各測定値Ix、Iy、I45、Iq45に基づいてスト-クスパラメ-タを求め、求めたスト-クスパラメ-タに基づいて液晶層の厚みや液晶分子の配向の捩れの角度等を求める。

Claim (excerpt)：

液晶セルを透過した光の透過光強度を極値において検出し、検出した透過光強度に基づいて液晶セルのストークスパラメータを求め、求めた液晶セルのストークスパラメータに基づいて液晶層の厚み及び液晶分子の配向の捩れの角度の少なくとも一方を求めることを特徴とする液晶セルパラメータ検出方法。

IPC (5)：

G02F 1/13 101 , G01B 11/06 , G01M 11/00 , G01N 21/23 , G02F 1/133 500

FI (5)：

G02F 1/13 101 , G01B 11/06 Z , G01M 11/00 T , G01N 21/23 , G02F 1/133 500

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

スト-クスメ-タ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-355911 Applicant：日本分光株式会社
光学特性測定方法及び測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-290425 Applicant：日本電気株式会社
ネマチック液晶素子の方位角方向のアンカリングエネルギ-測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-249387 Applicant：株式会社東陽テクニカ

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