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J-GLOBAL ID：200903047184152241

平面表示装置の品位検査方法およびその品位検査装置

Inventor： 片西 章浩 ,  西條 豊 ,  山田 芳孝 ,  細田 俊弘 ,  藤井 敏夫
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所 ,  テクノス株式会社
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999301948
Publication number (International publication number)：2001124661
Application date： Oct. 25, 1999
Publication date： May. 11, 2001
Summary：

【要約】【課題】 LCDなどFPDの視野角特性を考慮してFPDを高精度に品位検査することができる平面表示装置の品位検査方法およびその品位検査装置を提供する。【解決手段】 平面表示装置2の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサ24でスキャンし、このラインセンサ24によって平面表示装置2の各素子の光量を平面表示装置2の画面2aに対し垂直な方向において計測し、この光量データに基づいて平面表示装置2の各素子の輝度の良否判定を行い平面表示装置2の欠陥を検査する平面表示装置の品位検査装置において、前記ラインセンサ24とは別に、平面表示装置2の前記各素子の光量を平面表示装置2の画面2aに対し垂直な方向(B方向)以外の方向(J方向、K方向)から計測するラインセンサ24a,24bを傾斜可能に設けている。

Claim (excerpt)：

平面表示装置の複数の素子を複数の検出素子からなるラインセンサでスキャンし、このラインセンサによって平面表示装置の各素子の光量を平面表示装置の画面に対し垂直な方向において計測し、この光量データに基づいて平面表示装置の各素子の輝度の良否判定を行い平面表示装置の欠陥を検査するにあたり、前記ラインセンサを傾けて平面表示装置の前記各素子の光量を平面表示装置の画面に対し垂直な方向以外の方向からも計測するようにしたことを特徴とする平面表示装置の品位検査方法。

IPC (5)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/956 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352 ,  G09G 3/20 670

FI (5)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/956 Z ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352 ,  G09G 3/20 670 Q

F-Term (28)：

2G051AA73 ,  2G051AB06 ,  2G051CA03 ,  2G051CB02 ,  2G051CD05 ,  2G051DA07 ,  2G086EE10 ,  2H088FA12 ,  2H088FA13 ,  2H088MA20 ,  5C080AA10 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080FF09 ,  5C080GG02 ,  5C080JJ06 ,  5G435AA00 ,  5G435AA17 ,  5G435BB01 ,  5G435BB11 ,  5G435BB12 ,  5G435BB15 ,  5G435CC09 ,  5G435CC12 ,  5G435EE25 ,  5G435FF05 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 液晶ディスプレイの検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-294202   Applicant：京セラ株式会社
• 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-345304   Applicant：エヌティエヌ株式会社