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J-GLOBAL ID：200903047186306726

放射線検出器の検査方法および装置並びに放射線断層撮影装置

Inventor： 別所 浩治
Applicant, Patent owner： ジーイー横河メディカルシステム株式会社
Agent (1)： 井島 藤治 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997353967
Publication number (International publication number)：1999183628
Application date： Dec. 24, 1997
Publication date： Jul. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 放射線検出器を利用装置に搭載したままで放射線検出素子の劣化を検査する検査方法および装置、並びに、そのような検査装置を備えた放射線断層撮影装置を実現する。【解決手段】 放射線検出器24に照射する放射線ビーム40をその厚みの方向に移動させて放射線検出素子24の感度プロファイルを測定し、それに基づいて放射線検出素子の劣化を判定する。

Claim (excerpt)：

照射方向に垂直でかつ互いに垂直な2つの方向の一方では相対的に大きな寸法の幅を持ち他方では相対的に小さな寸法の厚みを持つ放射線ビームの厚みの方向において前記放射線ビームの厚みよりも大きな長さを持つ複数の放射線検出素子を、前記放射線ビームの幅の方向に配列した放射線検出器の検査方法であって、前記放射線検出器に照射する前記放射線ビームをその厚みの方向に移動させて前記複数の放射線検出素子の感度プロファイルを測定し、前記測定した感度プロファイルに基づいて各放射線検出素子の劣化を検査する、ことを特徴とする放射線検出器の検査方法。

IPC (3)：

G01T 7/00 ,  A61B 6/03 320 ,  G01T 1/20

FI (3)：

G01T 7/00 C ,  A61B 6/03 320 P ,  G01T 1/20 G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 像データから検出器の劣化によるアーティファクトを除去する方法及び物体の断層写真像を作成するシステム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-000653   Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
• X線検出器校正方法および装置並びにX線CT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-003071   Applicant：ジーイー横河メディカルシステム株式会社
• X線検出器の照射劣化特性測定方法およびX線CT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-221553   Applicant：ジーイー横河メディカルシステム株式会社
• X線CT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-076245   Applicant：株式会社島津製作所
• X線CT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-076244   Applicant：株式会社島津製作所