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J-GLOBAL ID：200903047292585855

形状測定装置

Inventor： 清野 慧 ,  高 偉 ,  奥山 栄樹
Applicant, Patent owner： 豊田工機株式会社 ,  清野 慧 ,  高 偉 ,  奥山 栄樹
Agent (1)： 門間 正一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994047264
Publication number (International publication number)：1995260450
Application date： Mar. 17, 1994
Publication date： Oct. 13, 1995
Summary：

【要約】【目的】 角度検出手段のゼロ点調整を測定中のデータ処理だけで自律的に行い、高精度の形状測定を可能にする。【構成】 互いに所定距離dだけ離れた2点で被測定物15に対する角度を同時に検出するセンサヘッド14と、被測定物15の複数箇所で2点の角度を検出すべく被測定物とセンサヘッド14とを互いに平行な方向に相対移動させる移動手段と、複数箇所でセンサヘッド14から出力される2点の角度データから被測定物15の形状を求めるマイクロコンピュータ20とを有する形状測定装置であって、マイクロコンピュータ20は、前記2点の角度データの差を所定距離dで除算した値を複数箇所分求め、これらの値を2階数値積分して形状データを求める機能を備える構成にした。

Claim (excerpt)：

互いに所定距離離れた2点で被測定物に対する角度を同時に検出する角度検出手段と、前記被測定物の複数箇所で2点の角度を検出すべく前記被測定物と前記角度検出手段とを互いに平行な方向に相対移動させる移動手段と、前記複数箇所で前記角度検出手段から出力される2点の角度データから被測定物の形状を求める演算手段とを有する形状測定装置であって、前記演算手段は、前記2点の角度データの差を前記所定距離で除算した値を複数箇所分求め、これらの値を2階数値積分して形状データを求める機能を備えることを特徴とする形状測定装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G01B 21/20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 光学的測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-039365   Applicant：豊田工機株式会社, 清野慧
• 特開平4-102010