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J-GLOBAL ID:200903047542912040
表面プラズモン共鳴測定装置およびセンサユニット
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
柳田 征史
, 佐久間 剛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003331549
Publication number (International publication number):2005098788
Application date: Sep. 24, 2003
Publication date: Apr. 14, 2005
Summary:
【課題】 表面プラズモン共鳴測定装置において、1RUまでの信頼性のある測定値を得る。 【解決手段】 表面プラズモン共鳴測定装置において、試料液5の溶媒の屈折率をn1、誘電体ブロック11の屈折率をn3とし、それぞれの温度変化率dn1/dt、dn3/dtをΔn1、Δn3としたとき、-2×10-5≦(n3・Δn1-n1・Δn3)≦2×10-5の関係を満たす溶媒および誘電体ブロック11を用いる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
光ビームを出射する光源と、
前記光ビームに対して透明な誘電体ブロック、該誘電体ブロックの一面に設けられた金属膜、および該金属膜上に試料液を保持する試料保持部からなるセンサユニットと、
前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して前記誘電体ブロックの一面と前記金属膜との界面で全反射条件が得られるように種々の角度で入射させる光ビーム入射光学系と、
前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して、全反射減衰の状態を検出する光検出手段とを備えてなる表面プラズモン共鳴測定装置において、
前記試料液の溶媒の屈折率をn1、前記誘電体ブロックの屈折率をn3とし、それぞれの温度変化率dn1/dt、dn3/dtをΔn1、Δn3としたとき、
-2×10-5≦(n3・Δn1-n1・Δn3)≦2×10-5
の関係を満たすことを特徴とする表面プラズモン共鳴測定装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
2G059AA10
, 2G059BB04
, 2G059DD16
, 2G059EE02
, 2G059FF11
, 2G059GG01
, 2G059JJ11
, 2G059KK04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
表面プラズモン共鳴を利用した測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-286189
Applicant:オリンパス光学工業株式会社, 理化学研究所
Cited by examiner (2)
-
全反射減衰を利用したセンサー
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-383236
Applicant:富士写真フイルム株式会社
-
SPRセンサおよびSPRセンサ・アレイ
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2001-562174
Applicant:グラフィニティーファーマスーティカルスアーゲー
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