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J-GLOBAL ID：200903047684728077

分光分析計における多変量解析方法

Inventor： 神崎 豊樹 ,  横山 一成 ,  小島 淳二
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995335952
Publication number (International publication number)：1997152399
Application date： Nov. 29, 1995
Publication date： Jun. 10, 1997
Summary：

【要約】【課題】 親機に基づいて子機を得る場合に子機を得る場合、変量の測定精度に優れ、データの移し替えなどに時間がかからないようにした分光分析計における多変量解析方法を提供すること。【解決手段】 校正行列が既知である分光分析計(親機)と、この親機によって得られるスペクトルの波長とわずかにずれた波長のスペクトルが得られ、校正行列が未知である分光分析計(子機)があるとき、親機において変量を意図的に変化させて測定したスペクトル群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シフトしたスペクトル群を演算によって求め、この演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することにより変量を得るようにしている。

Claim (excerpt)：

校正行列が既知である分光分析計(以下、親機という)と、この親機によって得られるスペクトルの波長とわずかにずれた波長のスペクトルが得られ、校正行列が未知である分光分析計(以下、子機という)があるとき、親機において変量を意図的に変化させて測定したスペクトル群に対し、前記波長がずれた分だけ波長シフトしたスペクトル群を演算によって求め、この演算結果に多変量解析法を適用することにより求めた校正行列を、子機で測定したスペクトルと乗算することにより変量を得るようにしたことを特徴とする分光分析計における多変量解析方法。

IPC (2)：

G01N 21/27 ,  G01J 3/02

FI (2)：

G01N 21/27 F ,  G01J 3/02 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 近赤外分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-294566   Applicant：井関農機株式会社