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J-GLOBAL ID:200903047737882057
光電気変換IC
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐野 静夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997084761
Publication number (International publication number):1998284707
Application date: Apr. 03, 1997
Publication date: Oct. 23, 1998
Summary:
【要約】【課題】 受光素子に光を照射することなくIV変換回路へ入力電流を与えることによって、受光素子とIV変換回路とを接続している配線に問題があるか否かを検出することができる光電気変換ICを提供することを目的とする。【解決手段】 受光する光信号に応じて電流を出力する受光素子(フォトダイオード)1と、入力する電流信号に応じて電圧信号を出力する電流/電圧変換回路2と、外部からON/OFF制御が可能な、電流出力を行うテスト回路3を有し、光信号を電圧信号に変換する光電気変換ICにおいて、受光素子1の出力に2つの端子T1、T2を設け、その出力端子T1を電流/電圧変換回路2に接続するとともに、出力端子T2をテスト回路3に接続する。
Claim (excerpt):
受光する光信号に応じて電流を出力する受光素子と、入力する電流信号に応じて電圧信号を出力する電流/電圧変換回路と、外部からON/OFF制御が可能であって、電流出力を行うテスト回路を有し、光信号を電圧信号に変換する光電気変換ICにおいて、前記受光素子の出力に複数の端子を設け、該複数の端子のうちの1つを前記電流/電圧変換回路に接続するとともに、残りの端子のうちの少なくとも1つを前記テスト回路に接続したことを特徴とする光電気変換IC。
IPC (5):
H01L 27/14
, G01J 1/44
, G01R 31/26
, H01L 31/10
, H04N 5/335
FI (5):
H01L 27/14 Z
, G01J 1/44 F
, G01R 31/26 F
, H04N 5/335 E
, H01L 31/10 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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電流-電圧変換アンプのテスト回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-268926
Applicant:三菱電機株式会社
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特開昭63-013368
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特開平3-091965
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