Pat
J-GLOBAL ID：200903047800998010

植物の凍結・低温ストレス耐性レベルの簡易評価方法および装置

Inventor：
吉羽 洋周

About 吉羽 洋周

, 
塩崎 紀子

About 塩崎 紀子


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (3)： 小川 勝男 ,  田中 恭助 ,  佐々木 孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004187528
Publication number (International publication number)：2006010476
Application date： Jun. 25, 2004
Publication date： Jan. 12, 2006
Summary：
【課題】植物の低温・凍結耐性レベルを簡便で、短時間に、評価する植物を枯らすことなく評価できるものとすること。【解決手段】評価する植物体は幼植物から成体植物まで、その植物種に適した栽培条件で育成した個体の組織の一部、例えば葉(葉が小さく数多く付くものは葉一枚を、また大きな葉を付けるものは葉の一部を切り取って使用)を切り取って、これを水中で凍結させ、その後室温に戻し、葉から溶出されたアミノ酸をニンヒドリンと反応させ分光器により570nmの吸光度を測定しその含量を測定する。【選択図】図4A
Claim (excerpt)：
被評価植物の葉片を採取すること、 採取した葉片を、水を入れた容器中に沈めること、 前記容器を水が凍結する温度の液中に所定時間曝して容器内の水を凍結させること、 前記容器を室温に戻し、凍結した水を解凍すること、 前記解凍した水中に溶出した所定の成分の含量を、ニンヒドリン反応を利用して測定すること、 により被評価植物体の低温及び凍結耐性レベルを評価することを特徴とする植物の凍結・低温耐性レベル簡易評価方法。
IPC (3)：
G01N 33/48 ,  G01N 21/78 ,  G01N 33/68
FI (4)：
G01N33/48 N ,  G01N33/48 A ,  G01N21/78 Z ,  G01N33/68
F-Term (18)：
2G045BB01 ,  2G045BB46 ,  2G045CB01 ,  2G045CB20 ,  2G045DA35 ,  2G045DA36 ,  2G045FB11 ,  2G045GC10 ,  2G054AA08 ,  2G054BB12 ,  2G054BB13 ,  2G054CA23 ,  2G054CE02 ,  2G054CE08 ,  2G054EA04 ,  2G054EB01 ,  2G054GB01 ,  2G054JA06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM