分光分析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：竹田明弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995062022
Publication number (International publication number)：1996233732
Application date： Feb. 23, 1995
Publication date： Sep. 13, 1996
Summary：

【要約】【目的】暗室内での迷光による悪影響や、センサ面への結露を防止すると共に、センサのピント合わせが簡単な分光分析装置を提供する。【構成】全体装置は投光部1と受光部2とからなる。受光部2は集光用レンズ4と、スリット7と、リファレンス用NDフィルタ9と、回折格子14とリニアイメージセンサ15とを有する。フィルタ9はスリット7の前面に位置し、開放自在である。スリット7はボディ8に組込まれていて、ボディ8の背面にはケース12で囲われた暗室13がある。暗室13内には回折格子14と、センサ15と、乾燥剤18とが入っている。センサ15は、センサ支持体16に固定され、暗室13の外から位置調節できる。

Claim (excerpt)：

集光用レンズと、スリットと、分光用回折格子と、分光検出用リニアイメージセンサと、暗室とからなり、スリットは暗室と外部との境界に取付けられ、スリットの入射側前方位置には開放自在なリファレンス用NDフィルタが設けられ、また、回折格子は暗室内に設置され、リニアイメージセンサは暗室内に位置し、かつ、暗室外から位置微調節できるように設けられている分光分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

分光分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-166562 Applicant：株式会社クボタ
分光分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-268234 Applicant：株式会社島津製作所
アレイ型受光素子の位置決め方法と分光分析計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-229542 Applicant：株式会社クボタ

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