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J-GLOBAL ID:200903048013934914
プロセスモデルのパラメータ調整支援装置及び方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (4):
吉武 賢次
, 永井 浩之
, 岡田 淳平
, 勝沼 宏仁
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005157252
Publication number (International publication number):2005346714
Application date: May. 30, 2005
Publication date: Dec. 15, 2005
Summary:
【課題】パラメータ調整をできる限り簡単に行え、また与えられたホワイトボックスモデルのパラメータの可同定性を判断しながらパラメータを調整するようにする。【解決手段】プロセスは、ダイナミクスが複数の物質間の相互の変化で表現される様な限定された生物学的・化学プロセスであり、プロセスにおけるプロセス外部入力と複数の物質の計測データを収集してデータを保持するプロセス外部入力収集手段21と、プロセス出力収集手段22とから構成されるプロセスデータ収集手段2と、物質収支と反応速度によって構成されるプロセスモデルに対して、プロセス外部入力データを入力して、シミュレーションを行うプロセスシミュレーション手段3と、プロセス出力表示手段10と、プロセス状態遷移図表示手段11と、パラメータ値を入力するパラメータ値入力手段と、を具えたプロセスモデルのパラメータ調整支援装置とその方法。【選択図】図4
Claim (excerpt):
外乱および操作量を含むプロセス外部入力と、プロセス状態量と、前記プロセス外部入力と前記プロセス状態量との関数であるプロセス観測出力と、前記プロセス外部入力を計測する外部入力センサーと、前記プロセス観測出力を計測するプロセス出力センサーと、を有する任意のプロセスにおいて、
前記プロセスにおける前記プロセス外部入力と前記プロセス状態が複数の物質から構成され、前記プロセスは、ダイナミクスが前記複数の物質間の相互の変化で表現される様な限定された生物学的・化学プロセスであり、
前記外部入力センサーの計測データを収集して所定の期間に亘ってデータを保持するプロセス外部入力収集手段と、前記プロセス出力センサーの計測データを収集して所定の期間に亘ってデータを保持するプロセス出力収集手段とから構成されるプロセスデータ収集手段と、
複数のパラメータからなるパラメータセット(パラメータベクトル)θεRp(p:パラメータ数)を持ち、物質収支と反応速度によって構成されるプロセスモデルに対して、前記プロセスデータ外部入力収集手段を通して供給されるプロセス外部入力データを入力することにより、プロセスの時間的および空間的な挙動のシミュレーションを行うプロセスシミュレーション手段と、
前記プロセスシミュレーション手段によるプロセス出力シミュレーション値と前記プロセス出力値とを表示するプロセス出力表示手段と、
前記プロセスモデルの状態の相互作用と状態の変化を表すプロセス状態遷移図表示手段と、
前記プロセス状態遷移図に付属する前記パラメータセットのパラメータ値を入力するパラメータ値入力手段と、
を具えたことを特徴とするプロセスモデルのパラメータ調整支援装置。
IPC (2):
FI (2):
G06F19/00 110
, C02F3/12 H
F-Term (23):
4D028AB00
, 4D028BC18
, 4D028BC22
, 4D028BC24
, 4D028BC28
, 4D028BD01
, 4D028BD06
, 4D028BD12
, 4D028BD16
, 4D028CA05
, 4D028CA06
, 4D028CA07
, 4D028CA09
, 4D028CA11
, 4D028CC00
, 4D028CC01
, 4D028CC05
, 4D028CC07
, 4D028CD01
, 4D028CD08
, 4D028CE02
, 4D028CE03
, 4D028CE04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
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故障診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-060039
Applicant:住友重機械工業株式会社
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