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J-GLOBAL ID:200903048139778330

画像処理装置及び画像形成装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中島 司朗
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001015520
Publication number (International publication number):2002218235
Application date: Jan. 24, 2001
Publication date: Aug. 02, 2002
Summary:
【要約】【課題】 網点領域、文字エッジ領域など、画像の種類を判別して所定の画像処理を行う場合において、前記画像の種類の誤判別が発生した場合でも、画質の劣化を抑制することができる画像処理装置、及び当該画像処理装置を用いた画像形成装置を提供する。【解決手段】 領域判別部440により判別の対象画素が網点中文字エッジ領域の画素であると判定された場合(信号S17〜S20のいずれかがハイとなった場合)に、当該画素が色画素であるか否か、及び網点領域が色領域であるか否かにより、当該対象画素に施す画像処理の内容を切り替える。
Claim (excerpt):
デジタル画像データを取得する取得手段と、前記デジタル画像データの各画素について、色画素であるか否かを判定する色画素判定手段と、前記色画素判定手段の判定結果に基づいて、各画素について、色領域に存在する画素であるか否かを判定する色領域画素判定手段と、前記デジタル画像データの各画素について、網点中文字エッジ領域の画素であるか否かを判定する網点中文字エッジ判定手段と、前記網点中文字エッジ判定手段により網点中文字エッジ領域の画素であると判定された場合に、当該画素についての前記色画素判定手段による判定結果及び前記色領域画素判定手段による判定結果に基づいて、当該画素に施す画像処理の内容を切り替える切り替え手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
IPC (7):
H04N 1/40 ,  B41J 2/52 ,  G06T 5/20 ,  G06T 7/40 100 ,  G06T 7/60 250 ,  H04N 1/409 ,  H04N 1/46
FI (7):
G06T 5/20 B ,  G06T 7/40 100 A ,  G06T 7/60 250 A ,  H04N 1/40 F ,  B41J 3/00 A ,  H04N 1/40 101 D ,  H04N 1/46 Z
F-Term (67):
2C262AA24 ,  2C262AA26 ,  2C262AA27 ,  2C262AB13 ,  2C262AC04 ,  2C262BA16 ,  2C262DA02 ,  2C262DA03 ,  2C262DA09 ,  2C262EA04 ,  2C262EA07 ,  2C262EA08 ,  5B057AA11 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE03 ,  5B057CH01 ,  5B057CH08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22 ,  5C077LL19 ,  5C077MP02 ,  5C077MP08 ,  5C077PP03 ,  5C077PP27 ,  5C077PP28 ,  5C077PP32 ,  5C077PP33 ,  5C077PP37 ,  5C077PQ08 ,  5C077PQ12 ,  5C077PQ17 ,  5C077PQ20 ,  5C077SS02 ,  5C077TT06 ,  5C079HB01 ,  5C079HB03 ,  5C079HB06 ,  5C079HB12 ,  5C079LA01 ,  5C079LA02 ,  5C079LA06 ,  5C079LA15 ,  5C079LA21 ,  5C079LA31 ,  5C079MA11 ,  5C079NA02 ,  5L096AA02 ,  5L096AA06 ,  5L096BA07 ,  5L096CA14 ,  5L096DA01 ,  5L096EA06 ,  5L096FA43 ,  5L096FA44 ,  5L096GA28
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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