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J-GLOBAL ID:200903048529187457

Al薄膜の形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993153639
Publication number (International publication number):1995014803
Application date: Jun. 24, 1993
Publication date: Jan. 17, 1995
Summary:
【要約】【目的】 本発明は、CVD法を用いてTiN膜上に平坦性に優れたAl薄膜を形成する方法を提供することを目的とする。【構成】 本発明に係る他のAl薄膜の形成方法は、TiN膜の形成された基板を、窒素プラズマに晒す第1の工程と、Al成分を含んだ原料ガスを供給して化学気相成長法により、TiON膜上にAl薄膜を形成する第2の工程とを有することを特徴とする。
Claim (excerpt):
TiN膜の形成された基板を、窒素プラズマに晒す第1の工程と、Al成分を含んだ原料ガスを供給して化学気相成長法により、前記TiN膜上にAl薄膜を形成する第2の工程とを有することを特徴とするAl薄膜の形成方法。

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