Pat
J-GLOBAL ID：200903048533822310

測距装置

Inventor：
高崎 実

About 高崎 実


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (1)： 中村 稔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997265128
Publication number (International publication number)：1999083474
Application date： Sep. 12, 1997
Publication date： Mar. 26, 1999
Summary：
【要約】【課題】 測距時間が無用に長引いてしまうことを防ぐと共に、より短時間で正確な測距情報を得るようにする。【解決手段】 測距対象物へ向けて光を投射し、該投射光の前記測距対象物での反射光を受光することにより、測距対象物までの距離を算出するアクティブ方式の測距手段と、外光成分による測距対象物の受光像に基づいて、測距対象物までの距離を算出するパッシブ方式の測距手段とを有する測距装置において、光学機器の使用条件に応じて、前記アクティブ方式の測距手段とパッシブ方式の測距手段の駆動を制御する制御手段(#110→#111又は#110→#112→#113)を有している。
Claim (excerpt)：
測距対象物へ向けて光を投射し、該投射光の前記測距対象物での反射光を受光することにより、測距対象物までの距離を算出するアクティブ方式の測距手段と、外界の光により、測距対象物までの距離を算出するパッシブ方式の測距手段とを有する測距装置において、光学機器の使用条件に応じて、前記アクティブ方式の測距手段とパッシブ方式の測距手段の駆動を制御する制御手段を有したことを特徴とする測距装置。
IPC (5)：
G01C 3/06 ,  G02B 7/30 ,  G02B 7/32 ,  G03B 13/36 ,  G03B 7/28
FI (6)：
G01C 3/06 A ,  G01C 3/06 V ,  G03B 7/28 ,  G02B 7/11 A ,  G02B 7/11 B ,  G03B 3/00 A
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • 特開平3-212632
  • 測距装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-032502   Applicant：キヤノン株式会社
  • 特開昭60-068370
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM