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J-GLOBAL ID:200903048981359320

ガス検出方法及びガス検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 丹羽 宏之
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006525055
Publication number (International publication number):2007504449
Application date: Jul. 30, 2004
Publication date: Mar. 01, 2007
Summary:
ガス検出装置は少なくとも1つの面発光レーザ(34、36)及び検出すべきガスを収納している検出域(48)を通過した光線(50、52)を検出するために少なくとも1つの光センサ(54、56)を含んで構成されている。第一の実施例ではこの光センサはホトダイオードであり、検出信号は電子微分演算器(64)より時間に関して微分され、その値を2つのロックイン増幅器(84、86)に送りF-検出及び2F-検出が生成される。Fはレーザ源の波長変調の周波数であり、得られた2つの測定信号を除した商は正確なガス濃度値を提供する。第二の実施例では、光センサは入射光を時間により微分した値に比例する検出信号を直接に提供する焦電センサである。このように第二の実施例では微分演算器を必要としない。
Claim (excerpt):
波長変調したレーザ源(2、34、36)及び検出域(48)周辺に配置した少なくとも第一のガスの存在又はその濃度を決定するための光センサ(94、96)を含んで構成したガス検出装置であって、 前記レーザ源は前記第一のガスの吸収線近辺の第一周波数(F)において波長変調した初期光信号(S0)を提供し、 前記センサは前記初期光が前記検出域を通過した後の光信号(SG)を受信し、 前記光センサは、検出域を通過後の前期光信号を時間により微分した値にほぼ比例する検出信号を提供する形式であり、通過後の前期光信号を時間により微分した値にほぼ比例する電子信号を生成し、 前記装置は更に、前記第一周波数において第一の変調基準信号(20)を生成する第一の手段(80)及び前記第一周波数の2倍の周波数において第二の変調基準信号(24)を生成する第二の手段(82)を含んで構成され、 前記電子信号と前記第一の変調基準信号との積を算出し、前記初期光信号の強度の関数であり且つ前記第一のガス濃度には依存しない第一の測定信号(SMF)を得るようにその積を時間によって積分し、 前記電子信号と前記第二の変調基準信号との積を算出し、前記第一のガス吸収の関数であり且つ前記第一の周波数においては前記初期光信号の強度変調には依存しない第二の測定信号(SM2F)を得るようにその積を時間によって積分することを特徴とするガス検出装置。
IPC (1):
G01N 21/35
FI (1):
G01N21/35 Z
F-Term (13):
2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC04 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK09 ,  2G059MM01 ,  2G059NN02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
  • ガス濃度測定方法およびその測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-052649   Applicant:東京電力株式会社, 日立電線株式会社
  • ガス濃度計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-309387   Applicant:三菱重工業株式会社
  • 特許第6172759号
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