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J-GLOBAL ID：200903049049606634
飛行時間質量分析計
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2006301150
Publication number (International publication number)：WO2006098086
Application date： Jan. 25, 2006
Publication date： Sep. 21, 2006
Summary：
イオンまたは中性粒子をその導入方向と垂直に加速する方式の飛行時間質量分析計であって、高性能な加速部とレンズ系の特性を有したままで、簡素化、小型化した飛行時間質量分析計を提供するため、加速部が押し出し電極と引き出し電極からなり、該押し出し電極の引き出し電極側の内面が曲面形状であり、該引き出し電極が中心に穴の開いた平板あるいはメッシュ構造を有する平板構造である飛行時間質量分析計、並びに、加速部が押し出し電極と引き出し電極からなり、該押し出し電極が複数の電極で構成され、該押し出し電極近傍での等電位面が曲面形状であり、該引き出し電極が中心に穴の開いた平板あるいはメッシュ構造を有する平板構造であることを特徴とする質量分析計。
Claim (excerpt)：
加速部が押し出し電極と、穴の開いた引き出し電極とからなり、
前記押し出し電極の引き出し電極側の内面が曲面形状であって、
前記加速部は、イオンの加速開始位置のずれに伴う飛行時間の分布を収束させるとともに、イオンの導入エネルギーの分布を補正して軌道制御を行うことを特徴とする飛行時間質量分析計。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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