質量分析装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：作田康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002153257
Publication number (International publication number)：2003346704
Application date： May. 28, 2002
Publication date： Dec. 05, 2003
Summary：

【要約】【課題】イオントラップから排出したイオンを飛行時間型質量分析計に導入して質量分析する装置において、イオントラップから排出されたイオンの殆ど全てが飛行時間型質量分析部に導入されるようにする。【解決手段】低真空部3に配置された四重極イオントラップ5にイオンを蓄積した後、イオンを射出して高真空部8に移送し、加速電極9においてイオンの進行方向に対して直角に電場加速して飛行時間測定する飛行時間型質量分析装置において、検出されたイオンの総量をデータ処理部62で計算する。得られたイオン総量とイオントラップへのイオン導入時間、および予め設定されたイオン総量の閾値に基づいて次回のイオン導入時間を決定する。イオン総量の閾値をイオントラップから排出されたイオンが低真空部と高真空部とを隔てる隔壁19に設けられたスリット7を殆ど全て通過できるように設定しておく。【効果】質量精度と定量精度が高く、多段のMS/MS分析が可能な質量分析装置が実現される。

Claim (excerpt)：

イオン蓄積器が配置された第一の真空部と、飛行時間型質量分析部である第二の真空部と、両真空部を仕切る隔壁に設けられたスリットと、イオン蓄積器にイオンを蓄積する時間を制御する手段と、蓄積されたイオンをイオン蓄積器から排出する手段とを備え、飛行時間型質量分析部により排出されたイオンを検出し、検出されたイオンの総量に対応する値を計算し、イオン総量値とイオン蓄積時間と予め設定されたイオン総量の閾値とに基づいて次回のイオン蓄積時間が設定されることを特徴とした質量分析計。

IPC (3)：

H01J 49/40 , G01N 27/62 , H01J 49/42

FI (3)：

H01J 49/40 , G01N 27/62 K , H01J 49/42

F-Term (3)：

5C038JJ06 , 5C038JJ07 , 5C038JJ09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

イオン蓄積式飛行時間型質量分析計
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-509922 Applicant：アナリチカオブブランフォード,インコーポレーテッド
三次元四重極質量分析法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-125523 Applicant：株式会社日立製作所
多極イオン案内を有する質量分析法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-551420 Applicant：アナリティカオブブランフォードインコーポレーテッド

Show all

Return to Previous Page