可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：吉田研二 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001543977
Publication number (International publication number)：2003516531
Application date： Dec. 09, 1999
Publication date： May. 13, 2003
Summary：

【要約】可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置が提供される。光学マッピング装置は物体、特に眼における横画像を表示できる。装置は異なる奥行き解像力を有する二つあるいはそれより多い画像、あるいはこれらの画像の組合せ、あるいは可変奥行き解像力を有する一つのみの画像を分配できる。またOCT画像が眼のレンズの背面における湾曲に対して補正される、可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置が提供される。

Claim (excerpt)：

ファイバー化された干渉計とバルク干渉計から成るグループから選択された干渉計であって、それぞれ物体位置と参照反射アセンブリーにつながる第1の光路と第2の光路を備える干渉計と、所定の範囲にわたり前記干渉計からの光学出力を横断する方向に走査する走査手段と、前記走査手段からの光学ビームを物体位置に位置する物体に送り、かつ物体から反射および散乱されて戻された光学出力ビームを前記第1の光路に沿って干渉計に戻すインターフェース光学系と、戻された光学出力ビームの少なくとも一部分を前記参照反射アセンブリーに方向付ける手段と、前記第1の光路又は前記第2の光路の少なくとも一方を変更して強度変調あるいは位相変調あるいは強度変調と位相変調を導入する手段と、少なくとも前記第2の光路の長さを前記走査手段に同期したペースで段階的あるいは連続的に変更する手段と、を備える可変奥行き解像力を有する光学マッピング装置であって、前記干渉計は、放射光源あるいは可変コヒーレンス長を有する光源により作動され、前記物体に送られた光学ビームを表す信号を前記参照反射アセンブリーからの出力信号と比較して前記干渉計からの出力信号を復調しかつ作り出す、前記走査手段に連結された比較器あるいは解析手段と、前記干渉計からの前記出力信号に基づいて前記物体の少なくとも部分の画像を表示あるいは記憶する手段と、を備えることを特徴とする光学マッピング装置。

IPC (5)：

G01N 21/17 620 , A61B 3/10 , A61B 3/12 , G01B 9/02 , G01B 11/24

FI (5)：

G01N 21/17 620 , G01B 9/02 , A61B 3/12 E , A61B 3/10 R , G01B 11/24 D

F-Term (35)：

2F064AA09 , 2F064BB00 , 2F064FF01 , 2F064FF03 , 2F064GG02 , 2F064GG20 , 2F064GG21 , 2F064GG70 , 2F065AA56 , 2F065CC00 , 2F065CC16 , 2F065FF00 , 2F065FF01 , 2F065FF51 , 2F065GG04 , 2F065GG07 , 2F065LL03 , 2F065LL12 , 2F065LL13 , 2F065LL15 , 2F065LL30 , 2F065LL53 , 2F065LL55 , 2F065LL57 , 2F065LL59 , 2F065QQ03 , 2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059EE09 , 2G059FF02 , 2G059GG01 , 2G059GG03 , 2G059JJ11 , 2G059JJ17 , 2G059JJ22

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

特表平6-511312
深部観察内視鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-225428 Applicant：富士写真フイルム株式会社

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