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J-GLOBAL ID:200903049697386003

食品の調理履歴計測方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 村上 友一 ,  大久保 操
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003326848
Publication number (International publication number):2005087135
Application date: Sep. 18, 2003
Publication date: Apr. 07, 2005
Summary:
【課題】 食品の生産ラインにおいて、食品自体がどのような加工状態であったのかを履歴として残すことができる食品の調理履歴計測方法を提供する。【解決手段】 上記課題を達成するための食品の調理履歴計測方法は、少なくとも温度センサと、タイマと、前記温度センサによって計測された値を時系列に記録するRAM14と、を備えたRFID10を、調理対象となる食材50の内部に入れて調理環境下において、前記温度センサによって計測される食材50内部のデータを前記RAM14に記録することを特徴とする。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
少なくとも温度センサと、タイマと、前記温度センサによって計測された値を時系列に記録するRAMと、を備えたタグを、 調理対象となる食材内部に入れて調理環境下において、前記温度センサによって計測される食材内部のデータを前記RAMに記録することを特徴とする食品の調理履歴計測方法。
IPC (4):
A23L1/01 ,  G01N33/02 ,  G06F17/60 ,  G06K17/00
FI (4):
A23L1/01 Z ,  G01N33/02 ,  G06F17/60 108 ,  G06K17/00 L
F-Term (4):
4B035LP59 ,  4B035LT20 ,  5B058CA17 ,  5B058YA01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 食品加工履歴管理システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-070403   Applicant:アンリツ株式会社, 安立計器株式会社
Cited by examiner (2)

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