Pat

J-GLOBAL ID：200903049908840059

粒子径分布測定装置

Inventor： 黒住 拓司 ,  池田 英幸 ,  伊串 達夫
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002115166
Publication number (International publication number)：2003315243
Application date： Apr. 17, 2002
Publication date： Nov. 06, 2003
Summary：

【要約】【課題】 比較的小さい散乱角の散乱光を検出するためのフォトダイオードアレイ検出器を安価なもので構成しながらも精度よく測定を行うことができる粒子径分布測定装置を提供すること。【解決手段】 光源3と、この光源3からの光5が照射される試料セル1と、この試料セル1において生ずる透過光5および所定の散乱光7,10を検出する第1アレイ検出器6と、前記試料セル1の前方かつ前記第1アレイ検出器6の後方に配置され、第1アレイ検出器6によって検出される散乱光7の散乱角と連続する角度から所定角度の散乱光10までを検出する第2アレイ検出器9とを備えている。

Claim (excerpt)：

光源と、この光源からの光が照射される試料セルと、この試料セルにおいて生ずる透過光および所定の散乱光を検出する第1アレイ検出器と、前記試料セルの前方かつ前記第1アレイ検出器の後方に配置され、第1アレイ検出器によって検出される散乱光の散乱角と連続する角度から所定角度の散乱光までを検出する第2アレイ検出器とを備えたことを特徴とする粒子径分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 粒径分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-316313   Applicant：株式会社堀場製作所
• 特許第2825644号
  
• 特許第2930710号
  
• 特開平3-176639