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J-GLOBAL ID：200903073362970256

粒径分布測定装置

Inventor： 東川 喜昭 ,  伊東 俊哉
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998316313
Publication number (International publication number)：2000146813
Application date： Nov. 06, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：

【要約】【課題】 広角散乱光用光検出群の周辺の構成が簡単でしかも安価な粒径分布測定装置を提供すること。【解決手段】 レーザ光源8からのレーザ光14を分散した粒子群に照射したときに生ずる回折/散乱光のうち散乱角の小さいレーザ光14Aの光強度を各散乱角ごとにリングディテクタ18によって検出し、前記回折/散乱光のうち散乱角が大きいレーザ光14Bの強度を各散乱角ごとに複数のフォトセンサ21〜26で構成される広角散乱光用光検出群20によって検出し、前記リングディテクタ18およびフォトセンサ21〜26からの散乱光強度信号に基づいて前記粒子群における粒径分布を測定するようにした装置において、前記フォトセンサ21〜26の光入射側に、特定の散乱角度の散乱光14Bのみを通過させるための開口31,32を各フォトセンサ21〜26に対応して形成した光遮蔽部材28を設けた。

Claim (excerpt)：

レーザ光源からのレーザ光を分散した粒子群に照射したときに生ずる回折/散乱光のうち散乱角の小さいレーザ光の光強度を各散乱角ごとにリングディテクタによって検出し、前記回折/散乱光のうち散乱角が大きいレーザ光の強度を各散乱角ごとに複数のフォトセンサで構成される広角散乱光用光検出群によって検出し、前記リングディテクタおよびフォトセンサからの散乱光強度信号に基づいて前記粒子群における粒径分布を測定するようにした装置において、前記フォトセンサの光入射側に、特定の散乱角度の散乱光のみを通過させるための開口を各フォトセンサに対応して形成した光遮蔽部材を設けたことを特徴とする粒径分布測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 粒度分布測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-188563   Applicant：株式会社島津製作所
• 浮遊粒子測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-073454   Applicant：郵政省通信総合研究所長, 廣本宣久