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J-GLOBAL ID：200903049977228047

蛍光X線ホログラフィー装置

Inventor： 松原 英一郎 ,  林 好一 ,  若生 公郎
Applicant, Patent owner： 東北大学長
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002079541
Publication number (International publication number)：2003279506
Application date： Mar. 20, 2002
Publication date： Oct. 02, 2003
Summary：

【要約】【目的】短時間で所定カウント数の蛍光X線を取得して、ホログラムパターンを得ることのできる蛍光X線ホログラフィー装置を提供する。【解決手段】この発明の蛍光X線ホログラフィー装置1は、回転テーブル5にセットされた試料Oに、単色のX線を照射することのできるX線集束素子9を有し、X線検出器7が取得すべき蛍光X線のカウント数を、短時間で所定カウント数にできる。

Claim (excerpt)：

試料に照射すべき波長のX線を含むX線群を出射するX線源と、試料が励起されることで試料から放射された蛍光を検知して対応する電気信号を出力するX線検出器と、前記X線源から試料に向かうX線群のうちの所定波長の特性X線を試料に集束させるX線集束素子と、を有することを特徴とする蛍光X線ホログラフィー装置。

IPC (3)：

G01N 23/223 ,  G21K 1/06 ,  G21K 5/02

FI (4)：

G01N 23/223 ,  G21K 1/06 C ,  G21K 1/06 M ,  G21K 5/02 X

F-Term (16)：

2G001AA01 ,  2G001AA09 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001EA01 ,  2G001EA03 ,  2G001EA09 ,  2G001GA08 ,  2G001GA13 ,  2G001JA08 ,  2G001KA20 ,  2G001LA02 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G001PA12

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 蛍光X線分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-023204   Applicant：株式会社テクノス研究所

Cited by examiner (1)

• 蛍光X線分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-023204   Applicant：株式会社テクノス研究所