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J-GLOBAL ID：200903050017619872

放射線検出装置、放射線画像診断装置、及び放射線画像の生成方法

Inventor：
尾川 浩一

About 尾川 浩一

, 
山河 勉

About 山河 勉


Applicant, Patent owner：
株式会社エムアンドシー

About 株式会社エムアンドシー


Agent (2)： 波多野 久 ,  関口 俊三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004289024
Publication number (International publication number)：2006101926
Application date： Sep. 30, 2004
Publication date： Apr. 20, 2006
Summary：
【課題】ビームハードニング現象に因るアーチファクトや軟部組織のコントラスト分解能の低下を防止した状態で、従来の積分モードにおいて得られていたものと同等の、透過放射線に拠る画像を提供する。【解決手段】放射線検出装置はX線検出器12及びデータ収集回路13により構成される。X線検出器12は光子計数型検出器である。この検出器12が出力した各収集画素の信号に基づいてX線のエネルギースペクトル上の複数のエネルギ領域に分類される当該放射線の粒子数の計数データを演算する手段(13(41〜45))と、この複数のエネルギ領域それぞれの計数データに当該エネルギ領域別に与えられた重み係数の重み付けを施す手段(13(46))と、重み付けされた収集画素毎の複数のエネルギ領域それぞれの計数データを互いに加算して当該加算データを収集画素毎の放射線画像生成用データとして出力する手段(13(47))とを備える。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
放射線を入射させる複数の収集画素を有し且つ当該収集画素のそれぞれに入射した前記放射線を光子と見做して当該粒子のエネルギに応じた電気信号を出力する光子計数型検出器と、 この検出器が出力した各収集画素の信号に基づいて前記放射線のエネルギースペクトル上の複数のエネルギ領域に分類される当該放射線の粒子数の計数データを演算する領域別データ演算手段と、 この領域別データ演算手段により演算された収集画素毎の前記複数のエネルギ領域それぞれの計数データに当該エネルギ領域別に与えられた重み係数の重み付けを施す重み付け手段と、 この重み付け手段により重み付けされた収集画素毎の前記複数のエネルギ領域それぞれの計数データを互いに加算して当該加算データを収集画素毎の放射線画像生成用データとして出力する加算手段とを備えたことを特徴とする放射線検出装置。
IPC (3)：
A61B 6/03 ,  G01T 1/161 ,  G01T 1/24
FI (5)：
A61B6/03 320R ,  A61B6/03 320S ,  A61B6/03 350J ,  G01T1/161 C ,  G01T1/24
F-Term (27)：
2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088FF04 ,  2G088FF07 ,  2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ06 ,  2G088KK01 ,  2G088KK03 ,  2G088KK06 ,  2G088KK16 ,  2G088KK21 ,  2G088KK32 ,  2G088KK33 ,  2G088LL09 ,  2G088LL11 ,  4C093AA22 ,  4C093CA04 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC01 ,  4C093FC02 ,  4C093FC24 ,  4C093FD12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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