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J-GLOBAL ID：200903050076057489

低温物体の非接触高速温度測定方法及び装置

Inventor： 山下 宣明
Applicant, Patent owner： 愛知計装株式会社
Agent (1)： 岡部 正夫 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993133385
Publication number (International publication number)：1994341906
Application date： Jun. 03, 1993
Publication date： Dec. 13, 1994
Summary：

【要約】【目的】 連続して搬送される大きさの異なる低温対象物の表面温度を非接触で高速に測定する放射温度計を提供する。【構成】 チョッパレスタイプの放射温度計を恒温ケース内に収容し、測定された対象物の温度値に対して外部環境からの放射温度補正及び、表面温度から内部温度を予測する内部温度補正を加える。さらに、対象物の大きさによる影響を除外するために移動補正を加える。

Claim (excerpt)：

チョッパレスタイプの放射温度計を恒温ケース内に保持して所定温度に保ち、対象物からの熱放射から対象物の温度を測定する際に、TCx=Tx+K1・(Ta-Tb)+K2但し、TCx:補正済み測定温度Tx :測定温度Ta :環境温度Tb :基準温度K1,K2:定数によって規定される温度補正を加えることによって周囲熱源による反射熱の影響を除去することを特徴とする非接触温度測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特公昭64-005647
  
• 比較的低温物体の表面温度測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-082834   Applicant：住友金属工業株式会社
• 特開昭61-026829