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J-GLOBAL ID：200903050350182732

印刷物検査方法及び装置

Inventor：
佐藤 博

About 佐藤 博

, 
松波 剛

About 松波 剛


Applicant, Patent owner：
大日本印刷株式会社

About 大日本印刷株式会社

, 
オムロン株式会社

About オムロン株式会社


Agent (1)： 高矢 諭 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998158040
Publication number (International publication number)：1999348240
Application date： Jun. 05, 1998
Publication date： Dec. 21, 1999
Summary：
【要約】【課題】 面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い印刷不良を確実に検出できるようにする。【解決手段】 印刷物検査装置において、検査画像と基準画像との差分画像を作成する差分絶対値回路30と、基準画像から、差分画像に残存する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像を作成する閾値生成回路36と、前記差分画像を前記閾値画像でマスク処理してマスク済画像を作成するマスク回路40と、マスク済画像について16×16画素の矩形領域を単位に画素値を積算する積算回路42と、積算値が判定レベル以上のときに不良発生と判定する判定回路44とを備えている。
Claim (excerpt)：
印刷物をカメラで撮像して入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法において、前記検査画像と基準画像との差分画像を作成するとともに、前記基準画像から、前記差分画像に残存する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像を作成し、前記検査画像からの差分画像を前記閾値画像でマスク処理してマスク済画像を作成し、作成されたマスク済画像について、所定の矩形領域を単位に画素値を積算する積算処理を行い、その積算値が判定レベル以上のときに印刷不良発生と判定する判定処理を行うことを特徴とする印刷物検査方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (5)
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