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J-GLOBAL ID：200903050964152341

3次元形状測定装置、方法及び記録媒体

Inventor： 石山 塁
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 古溝 聡 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998326288
Publication number (International publication number)：2000146543
Application date： Nov. 17, 1998
Publication date： May. 26, 2000
Summary：

【要約】【課題】 3次元形状の測定を短い時間で行い、位相の接続を確実に行う。【解決手段】 計測対象物体に投射する光パターンは、基本の周期πの正弦波信号101にその2倍の周期2πの正弦波信号102を加えた信号103で表される強度変化を有するものとする。このような光パターンが投射された計測対象物体を画像をカメラで撮影し、この撮影した画像に基づいて、基本の周期の正弦波信号に対応する位相φ1と2倍の周期の正弦波信号に対応する位相φ2とが計算される。そして、位相φ2の接続を最初に行った後、これを参照して位相φ1の接続を行う。そして、この接続した位相φ1と、カメラ及び前記光パターンを照射した光源の位置関係とに基づいて、計測対象物体の表面までの奥行きを計算する。

Claim (excerpt)：

複数の正弦波を足し合わせた信号で、前記複数の正弦波がそれぞれ最も周期の短い正弦波の整数倍の周期を有する信号によって表される強度変化を有する光パターンを計測対象物に投射する光投射手段と、前記光投射手段からの光パターンが投射された計測対象物の画像を撮影する画像撮影手段と、前記画像撮影手段によって撮影された画像に基づいて、前記複数の正弦波のそれぞれの位相を計算する位相計算手段と、前記位相計算手段によって計算された各位相を、対応する正弦波の周期の長いものから順番により周期が長い正弦波の位相を参照しながら、接続していく位相接続手段と、前記位相接続手段によって接続された位相と、前記光投射手段及び前記画像撮影手段との位置関係と、前記画像撮影手段によって撮影された画像中の各画素の位置とに基づいて、前記計測対象物の形状を求める形状算出手段とを備えることを特徴とする3次元形状測定装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G06T 7/00

FI (3)：

G01B 11/24 E ,  G01B 11/24 K ,  G06F 15/62 415

F-Term (24)：

2F065AA25 ,  2F065AA54 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF07 ,  2F065FF23 ,  2F065GG01 ,  2F065GG15 ,  2F065GG18 ,  2F065HH01 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK02 ,  2F065LL41 ,  2F065MM11 ,  2F065PP02 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ32 ,  2F065UU01 ,  5B057BA15 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 3次元計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-221186   Applicant：シャープ株式会社