Pat

J-GLOBAL ID：200903051435256090

三次元形状測定方法及びそれを用いた皮膚表面の歪と応力の解析方法

Inventor： 蔦 紀夫 ,  岩本 剛 ,  李 美成 ,  河野 哲児郎 ,  金子 治
Applicant, Patent owner： 株式会社資生堂
Agent (1)： 石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997266881
Publication number (International publication number)：1999108630
Application date： Sep. 30, 1997
Publication date： Apr. 23, 1999
Summary：

【要約】【課題】 顔の表情変化に伴う表面形状変化の測定が可能な三次元形状測定方法を提供する。【解決手段】 スライドプロジェクタ52でマルチスリットを投影した測定対象24を左右のCCDカメラ12,14で撮影して得られた画像を記録し、マルチスリットの影を利用して左右の画像で対応する点を見い出し、変換行列を用いてそれらの二次元座標から三次元座標を計算する。変換行列の各要素については予め三次元座標が既知の物体を撮影したときの二次元座標から計算する。この方法により得られた所定の時間間隔での変位のデータからグリーン歪及びキルヒホッフ応力が計算される。

Claim (excerpt)：

同一平面上になく三次元座標が既知の6点を左カメラおよび右カメラで撮影してそれぞれ左画像および右画像を得、三次元座標値から左画像における座標値への変換マトリクスの各要素と三次元座標値から右画像における座標値への変換マトリクスの各要素を、該6点の三次元座標値、左画像における座標値および右画像における座標値から計算し、測定対象物を前記左カメラおよび右カメラで撮影してそれぞれ左画像および右画像を得、左画像上の複数の点に対応する右画像上の複数の点の位置を決定し、該複数の点の左画像および右画像における座標値、および前記変換マトリクスの各要素の値から、該複数の点の三次元座標を計算するステップを具備する三次元形状測定方法。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  A61B 5/00 ,  G01L 1/00

FI (3)：

G01B 11/24 K ,  A61B 5/00 M ,  G01L 1/00 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 三次元計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-213536   Applicant：村田機械株式会社
• 特表平5-509394
  
• 視覚センサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-139100   Applicant：ファナック株式会社
• 特表平5-509394