超音波画像診断装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998308707
Publication number (International publication number)：1999197152
Application date： Oct. 29, 1998
Publication date： Jul. 27, 1999
Summary：

【要約】【課題】本発明の目的は、断層像上で複数の計測点を簡易に且つ正確に指定することのできる超音波画像診断装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、被検体内の断面を超音波で走査するプローブ1、送信ユニット2及び受信ユニット3と、この走査により得られるエコー信号に基づいて断面に関する断層像を生成するB/Mモード処理ユニット4と、計測点を指定するためのツールを作成するグラフィック演算器6と、作成されたツールを断層像と共に表示する表示ユニット5と、ツールを操作するためのトラックボール7と、ツールにより指定された計測点間の距離を計算する計算器8とを具備する超音波画像診断装置において、ツールには断層像上に任意位置及び任意角度で設けられる基準線が含まれ、この基準線上に複数の計測点を連続的に指定することができるようになっていることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被検体内の断面を超音波で走査する手段と、前記走査により得られるエコー信号に基づいて前記断面に関する断層像を生成する手段と、計測点を指定するためのツールを作成する手段と、前記作成されたツールを、前記断層像と共に表示する手段と、前記ツールを操作するための入力手段と、前記ツールにより指定された計測点間の距離を計算する手段とを具備する超音波画像診断装置において、前記ツールには、前記断層像上に任意位置及び任意角度で設けられる基準線が含まれ、この基準線上に複数の計測点を連続的に指定することができるようになっていることを特徴とする超音波画像診断装置。

IPC (4)：

A61B 8/00 , A61B 8/08 , A61B 8/14 , G01B 17/00

FI (4)：

A61B 8/00 , A61B 8/08 , A61B 8/14 , G01B 17/00 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

超音波診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-281514 Applicant：富士通株式会社
超音波診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-321969 Applicant：エイティーエル・ウルトラサウンド・インコーポレイテッド

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