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J-GLOBAL ID：200903051816772485

IC試験装置

Inventor： 齊藤 登
Applicant, Patent owner： 株式会社アドバンテスト
Agent (1)： 前田 均 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998105576
Publication number (International publication number)：1999287841
Application date： Apr. 01, 1998
Publication date： Oct. 19, 1999
Summary：

【要約】【課題】被試験ICのコンタクト部への位置決め精度を高める。【解決手段】被試験ICの入出力端子HBを、テストトレイに搭載された状態でテストヘッドのコンタクトピン51へ押し付けてテストを行うIC試験装置であり、ソケット50またはソケットガイド40に、被試験ICに接触してこれを位置決めするデバイスガイド52を設けらる。

Claim (excerpt)：

被試験ICの入出力端子を、トレイに搭載された状態でテストヘッドのコンタクト部へ押し付けてテストを行うIC試験装置において、前記コンタクト部に、前記被試験ICに接触してこれを位置決めするガイド手段が設けられていることを特徴とするIC試験装置。

IPC (3)：

G01R 31/26 ,  H01L 21/66 ,  B65G 47/51

FI (5)：

G01R 31/26 J ,  G01R 31/26 H ,  G01R 31/26 Z ,  H01L 21/66 G ,  B65G 47/51

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• ICのコンタクト機構
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-065018   Applicant：安藤電気株式会社