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J-GLOBAL ID：200903051973983694

顕微鏡用物体の検査及び操作のための装置及び方法

Inventor： ヴェルナー クネーベル ,  ユルゲン ホフマン
Applicant, Patent owner： ライカ ミクロジュステムス ハイデルベルク ゲーエムベーハー
Agent (1)： 加藤 朝道 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001238639
Publication number (International publication number)：2002082287
Application date： Aug. 07, 2001
Publication date： Mar. 22, 2002
Summary：

【要約】【課題】 光軸に沿ったその広がりが使用される顕微鏡対物レンズの焦点深度より大きい三次元物体をも検査及び操作すること。(その際三次元物体のあらゆる位置における物体操作が可能とする。)【解決手段】 (a)顕微鏡(2);(b)照明光線路(5)を規定し、物体(1)を照明するための少なくとも1つの第一光源(3、4);(c)検出光線路(7)を規定し、物体(1)からの戻り光を検出するための検出器(6);(d)操作光線路(9)を規定し、物体(1)を操作するための第二光源(8)を有する顕微鏡用物体の検査及び操作用の装置及びその操作方法において、前記顕微鏡(2)は、共焦点走査型顕微鏡であり、第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)に、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路(9)に夫々配されているとともに、該照明光線路(5)における光の偏向は、該操作光線路(9)における光の偏向と独立に行われることを特徴とする

Claim (excerpt)：

(a)顕微鏡(2);(b)照明光線路(5)を規定し、物体(1)を照明するための少なくとも1つの第一光源(3、4);(c)検出光線路(7)を規定し、物体(1)からの戻り光を検出するための検出器(6);(d)操作光線路(9)を規定する、物体(1)を操作するための第二光源(8)を有する顕微鏡用物体の検査及び操作用の装置において、前記顕微鏡(2)は、共焦点走査型顕微鏡であり、第一光線偏向装置(12)が、前記照明光線路(5)に配され、第二光線偏向装置(16)が、前記操作光線路(9)に配されているとともに、該照明光線路(5)における光の偏向は、該操作光線路(9)における光の偏向と独立に行われることを特徴とする装置。

IPC (4)：

G02B 21/00 ,  G02B 21/16 ,  G02B 21/32 ,  G02B 21/36

FI (4)：

G02B 21/00 ,  G02B 21/16 ,  G02B 21/32 ,  G02B 21/36

F-Term (13)：

2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AB04 ,  2H052AB05 ,  2H052AC04 ,  2H052AC05 ,  2H052AC12 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AF14 ,  2H052AF19

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• レーザ走査顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-294107   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 共焦点の顕微分光計システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-010991   Applicant：スペクトラ-テックインコーポレーテッド
• 光学ピンセット
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-201534   Applicant：株式会社日立製作所