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J-GLOBAL ID:200903052199804508

超音波伝搬特性の測定方法および測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高島 一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997320863
Publication number (International publication number):1999153584
Application date: Nov. 21, 1997
Publication date: Jun. 08, 1999
Summary:
【要約】【課題】 被検査物の超音波伝搬速度などの超音波伝搬特性を非破壊的に、且つより正確に測定する方法、およびそのための測定装置を提供することにある。【解決手段】 超音波送信手段(1) と超音波受信手段(2) とを被検査物の表面に設置し、両手段の設置間隔がL1 とL2 とであるとき、超音波送信手段(1) から送信された超音波が被検査物中を伝搬して超音波受信手段(2) にて受信される迄に要する伝搬時間t1 とt2 とをそれぞれ測定することを特徴とする超音波伝搬特性の測定方法および測定装置。【効果】 非破壊診断が要求される稼働中にある絶縁電線の被覆層の劣化度診断にすこぶる好適である。
Claim (excerpt):
超音波送信手段(1) を設置手段(11)を介し、且つ超音波受信手段(2) を設置手段(21)を介してそれぞれ被検査物の表面に設置し、超音波送信手段(1) と超音波受信手段(2) との設置間隔がL1 とL2 とであるとき、超音波送信手段(1) から送信された超音波が被検査物中を伝搬して超音波受信手段(2)にて受信される迄に要する伝搬時間t1 とt2 とをそれぞれ測定することを特徴とする超音波伝搬特性の測定方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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