Pat
J-GLOBAL ID:200903052949128119
距離測定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山川 政樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996291541
Publication number (International publication number):1998134197
Application date: Nov. 01, 1996
Publication date: May. 22, 1998
Summary:
【要約】【課題】 簡単、かつ短時間に、しかも低コストで目標までの距離を測定する。【解決手段】 目標M1を第1の方向から見た画像?@および第2の方向から見た画像?Aを1台のカメラの撮像部に導く。このカメラからの画像?@のデータを登録画像データとし(図1(a))、2次元離散的フーリエ変換(DFT)を施して登録フーリエ画像データを得る。画像?Aのデータを照合画像データとし(図1(b))、DFTを施して照合フーリエ画像データを得る。登録フーリエ画像データと照合フーリエ画像データと合成し、振幅抑制処理を行ったうえ、DFTを施す。このDFTの施された合成フーリエ画像データにおいて、相関成分エリアの中心P0 (図1(c))から相関ピークPa1までの距離Aに基づいて目標までの距離を測定する。
Claim (excerpt):
1台のカメラと、目標を第1の方向から見た画像および第2の方向から見た画像を前記カメラの撮像部に導く画像取込手段と、前記カメラの撮像部に導かれた第1の方向から目標を見た画像データを第1のパターンデータとし、この第1のパターンデータに2次元離散的フーリエ変換を施して第1のフーリエ2次元パターンデータを作成する第1のフーリエパターンデータ作成手段と、前記カメラの撮像部に導かれた第2の方向から目標を見た画像データを第2のパターンデータとし、この第2のパターンデータに2次元離散的フーリエ変換を施して第2のフーリエ2次元パターンデータを作成する第2のフーリエパターンデータ作成手段と、前記第1のフーリエ2次元パターンデータと前記第2のフーリエ2次元パターンデータとを合成し、これによって得られる合成フーリエ2次元パターンデータに2次元離散的フーリエ変換および2次元離散的逆フーリエ変換の何れか一方を施すパターン処理手段と、このパターン処理手段によってフーリエ変換の施された合成フーリエ2次元パターンデータに出現する相関成分エリアの基準位置付近を除く範囲で相関ピークを求め、この相関成分エリアの基準位置と相関ピークの位置との距離に基づいて目標までの距離を測定する測距手段とを備えたことを特徴とする距離測定装置。
IPC (4):
G06T 7/60
, G01B 11/00
, G06T 7/00
, H04N 7/18
FI (4):
G06F 15/70 350 J
, G01B 11/00 H
, H04N 7/18 C
, G06F 15/62 415
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
-
特開平2-100589
-
特開昭60-125515
-
三次元形状計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-038928
Applicant:富士電機株式会社, 富士ファコム制御株式会社
-
パターンマッチングによる位置推定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-322943
Applicant:住友化学工業株式会社
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Cited by examiner (4)
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特開平2-100589
-
特開昭60-125515
-
三次元形状計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-038928
Applicant:富士電機株式会社, 富士ファコム制御株式会社
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パターンマッチングによる位置推定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-322943
Applicant:住友化学工業株式会社
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