距離測定装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：三好祥二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005123466
Publication number (International publication number)：2006300753
Application date： Apr. 21, 2005
Publication date： Nov. 02, 2006
Summary：

【課題】測定基準の精度を向上させることにより、レーザ光線を使用した距離測定装置の測定精度の向上を図る【解決手段】測距光6を発生する光源5と、前記測距光を測定対象物8に照射し、該測定対象物からの反射光9を受光する受光部と、外部の基準時間を取得する外部基準時間取得装置とを有し、該外部基準時間取得装置54で取得した基準時間に基づいて、前記光源を制御し測距光を変調させると共に、該変調した測距光を、内部光路を介して受光した位相と、前記対象反射体で反射されて戻る反射光を受光した位相を測定し、その位相差に基づいて距離を演算する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測距光を発生する光源と、前記測距光を測定対象物に照射し、該測定対象物からの反射光を受光する受光部と、外部の基準時間を取得する外部基準時間取得装置とを有し、該外部基準時間取得装置で取得した基準時間に基づいて、前記光源を制御し測距光を変調させると共に、該変調した測距光を、内部光路を介して受光した位相と、前記対象反射体で反射されて戻る反射光を受光した位相を測定し、その位相差に基づいて距離を演算することを特徴とする距離測定装置。

IPC (1)：

G01S 17/36

FI (1)：

G01S17/36

F-Term (15)：

5J084AA05 , 5J084AD02 , 5J084BA04 , 5J084BA19 , 5J084BA36 , 5J084BA51 , 5J084BB01 , 5J084BB21 , 5J084BB24 , 5J084BB36 , 5J084CA24 , 5J084CA42 , 5J084CA52 , 5J084DA01 , 5J084EA04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

光波距離計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-188656 Applicant：工業技術院長

Cited by examiner (7)

特開平2-013878
高精度時間標準された極短レーザーパルス距離計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-075593 Applicant：日本原子力研究所
車両用レーザレーダ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-318255 Applicant：矢崎総業株式会社

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