光波距離計

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：工業技術院計量研究所長
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999188656
Publication number (International publication number)：2001013245
Application date： Jul. 02, 1999
Publication date： Jan. 19, 2001
Summary：

【要約】【目的】光波による距離測定技術を提供する。【構成】パルスの時間幅が狭いモードロック短パルスレーザ光源より出射する高速に変調された光の基本波と第2高調波を、送信光学系により送信し、この送信された光が目標物体に当たり、この目標物体から反射された光を、当該送信光学系と等価な受信光学系で受信し、この受信された光を光検出器によって検出し、その受信信号の位相を位相系によって求め、大気等の周囲環境の影響を受けないで距離を精密に測定する光波距離計である。

Claim (excerpt)：

スペクトル幅が広いモードロック短パルスレーザ光源より出射する高速に変調された光を、送信光学系により送信し、この送信された光が目標物体に当たり、この目標物体から反射された光を、上記送信光学系と等価な受信光学系で受信し、この受信された光を光検出器によって検出し、その受信信号の位相を位相計によって求め、距離を精密に測定することを特徴とする光波距離計。

IPC (2)：

G01S 17/10 , G01B 11/00

FI (2)：

G01S 17/10 , G01B 11/00 B

F-Term (16)：

2F065AA06 , 2F065DD03 , 2F065GG04 , 2F065LL17 , 2F065QQ33 , 5J084AA05 , 5J084AD02 , 5J084BA03 , 5J084BA32 , 5J084BA51 , 5J084BA57 , 5J084BB14 , 5J084CA03 , 5J084CA26 , 5J084DA09 , 5J084EA04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開平2-013878
光学的界面間寸法測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-066389 Applicant：工業技術院長, 富士写真光機株式会社
微分測距装置及びその測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-102943 Applicant：イムラアメリカインコーポレイテッド

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