光透過率測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：猪熊克彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996209327
Publication number (International publication number)：1998038803
Application date： Jul. 19, 1996
Publication date： Feb. 13, 1998
Summary：

【要約】【課題】試料表面などでの反射光が信号光に混入することがなく、しかも光の利用効率も十分に高い光透過率測定装置を提供する。【解決手段】光源1から出射した光束を偏光子3を通すことにより所望の直線偏光とし、該所望の直線偏光状態を持つ光束の一部を透過または反射するビームスプリッター4へ入射し、前記ビームスプリッター4を透過し又は反射した光束を試料7及び1/4波長板8の順に透過して反射鏡9に入射し、該反射鏡9によって反射した光束を前記1/4波長板8及び前記試料7の順に透過して前記ビームスプリッター4に入射し、該ビームスプリッター4によって反射し又は透過した光束を、前記1/4波長板を2度通過した光束を透過するように配置された検光子10及び検出器12の順に入射させて光を検出する。

Claim (excerpt)：

光源から出射した光束を偏光子を通すことにより所望の直線偏光とし、該所望の直線偏光状態を持つ光束の一部を透過または反射するビームスプリッターへ入射し、前記ビームスプリッターを透過し又は反射した光束を試料及び1/4波長板の順に透過して反射鏡に入射し、該反射鏡によって反射した光束を前記1/4波長板及び前記試料の順に透過して前記ビームスプリッターに入射し、該ビームスプリッターによって反射し又は透過した光束を、前記1/4波長板を2度通過した光束を透過するように配置された検光子及び検出器の順に入射させて光を検出する光透過率測定装置。

IPC (4)：

G01N 21/59 , G01N 21/01 , G01N 21/27 , G01N 21/21

FI (4)：

G01N 21/59 Z , G01N 21/01 D , G01N 21/27 Z , G01N 21/21 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

特開平3-225207
自動化学分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-249397 Applicant：株式会社日立製作所
光ファイバの非線形屈折率の計測法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-009548 Applicant：株式会社フジクラ

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