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J-GLOBAL ID:200903054433599347

クリープ余寿命評価方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 角田 嘉宏 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001300858
Publication number (International publication number):2003106947
Application date: Sep. 28, 2001
Publication date: Apr. 09, 2003
Summary:
【要約】【課題】 被評価材のクリープ余寿命を、短時間に、高精度且つ低コストで、被評価材の材質に関係なく評価することが可能な方法を提供すること。【解決手段】 被評価材1に固着した犠牲型センサ2を非破壊的評価法で評価することにより犠牲型センサ2のクリープ損傷度を求め、この犠牲型センサ2のクリープ損傷度より被評価材1のクリープ損傷度を求め、この被評価材1のクリープ損傷度より被評価材1のクリープ余寿命を評価する。
Claim (excerpt):
被評価材に固着した犠牲型センサを非破壊的評価法で評価することにより犠牲型センサのクリープ損傷度を求め、この犠牲型センサのクリープ損傷度より被評価材のクリープ損傷度を得、この被評価材のクリープ損傷度より被評価材のクリープ余寿命を評価する方法。
IPC (3):
G01M 19/00 ,  F01D 25/00 ,  G01N 17/00
FI (4):
G01M 19/00 Z ,  F01D 25/00 L ,  F01D 25/00 W ,  G01N 17/00
F-Term (19):
2G024AD05 ,  2G024AD33 ,  2G024BA12 ,  2G024CA22 ,  2G024CA30 ,  2G024DA12 ,  2G024DA15 ,  2G024DA16 ,  2G024EA11 ,  2G024FA02 ,  2G024FA17 ,  2G050AA01 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050DA02 ,  2G050EA01 ,  2G050EA04 ,  2G050EB01 ,  2G050EC05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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