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J-GLOBAL ID：200903054649999170

液晶初期配向角測定方法及び液晶初期配向角測定装置

Inventor： 廣沢 一郎
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 若林 忠 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997331715
Publication number (International publication number)：1999160198
Application date： Dec. 02, 1997
Publication date： Jun. 18, 1999
Summary：

【要約】【課題】液晶初期配向角(プレチルト角)を精度よく、かつ高速に測定する手法を提供する。【解決手段】直線偏光を液晶試料3に垂直に入射するとともに、回転ステージ7上で液晶試料3を面内回転し、透過光の振幅比及び位相差の入射光偏光方向に対する液晶試料方位角依存性を測定する。この測定値より液晶初期配向角(プレチルト角)を決定する。

Claim (excerpt)：

直線偏光を液晶試料に入射し、透過光の偏光状態を測定することにより液晶初期配向角を決定する液晶初期配向角測定法において、前記直線偏光は液晶試料に垂直に入射され、前記液晶試料の初期配向角は、前記液晶試料を面内回転して、前記透過光の振幅比及び前記透過光の位相差の入射光偏光方向に対する液晶試料方位角依存性を測定することにより決定されることを特徴とする液晶初期配向角測定方法。

IPC (2)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/21

FI (2)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/21 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 液晶分子のチルト角測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-172612   Applicant：カシオ計算機株式会社
• 複屈折層ギャップ厚測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-158967   Applicant：松下電器産業株式会社