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J-GLOBAL ID：200903054864497665

被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置

Inventor：
羽根渕 昌明

About 羽根渕 昌明


Applicant, Patent owner：
株式会社ニデック

About 株式会社ニデック


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005194454
Publication number (International publication number)：2006122649
Application date： Jul. 01, 2005
Publication date： May. 18, 2006
Summary：
【課題】 高速測定を維持しつつノイズとなる信号を除去できるスペクトル干渉を用いた被検物体の測定方法、及び該方法を用いた眼科装置を提供する。【解決手段】 低コヒーレント長の光の一部を被検物体に照射して反射光を物体光とするとともに低コヒーレント長の光の一部を参照光として物体光と合成して干渉させ,得られた干渉光を所定の周波数成分に分光して受光して受光信号を得るとともに、受光信号をフーリエ変換又は逆フーリエ変換して位相物体の断層像撮影または光学表面プロファイルの測定を行うための測定方法において、受光信号に含まれる物体光及び参照光の各自己相関信号の和となる信号成分を受光信号から差し引いた情報をフーリエ変換又は逆フーリエ変換することにより被検物体の画像情報を得る。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
低コヒーレント長の光の一部を被検物体に照射して反射光を物体光とするとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光として前記物体光と合成して干渉させ,得られた干渉光を所定の周波数成分に分光して受光して受光信号を得るとともに、該受光信号をフーリエ変換又は逆フーリエ変換して位相物体の断層像撮影または光学表面プロファイルの測定を行うための測定方法において、前記受光信号に含まれる前記物体光及び参照光の各自己相関信号の和となる信号成分を前記受光信号から差し引いた情報をフーリエ変換又は逆フーリエ変換することにより被検物体の画像情報を得ることを特徴とする被検物体測定方法。
IPC (4)：
A61B 3/10 ,  G01N 21/17 ,  A61B 3/12 ,  G01B 11/24
FI (5)：
A61B3/10 Z ,  G01N21/17 625 ,  A61B3/10 H ,  A61B3/12 F ,  G01B11/24 D
F-Term (32)：
2F065AA06 ,  2F065AA25 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF51 ,  2F065GG00 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL08 ,  2F065LL13 ,  2F065LL15 ,  2F065LL42 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ34 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE10 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)

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