測量システム

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：松浦孝 , 小倉洋樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003183089
Publication number (International publication number)：2004085553
Application date： Jun. 26, 2003
Publication date： Mar. 18, 2004
Summary：

【課題】カメラの内部定位要素を簡便に算出するとともに測量機で得られる測量情報とカメラで得られる測量現場の画像情報とを簡便・効率的に関連付ける。【解決手段】デジタルスチルカメラ20により測量現場の概観画像を撮影する。概観画像上において11個の基準点(基準点P1、P2、P3等)を指定する。トータルステーション等の測量機10により基準点(P1、P2、P3等)の位置を測量する。測量された11個の基準点の実空間上の位置と、これらの基準点の概観画像上の位置とから、デジタルスチルカメラ20の測量機10に対する位置・傾き、及びディスト-ション等の内部定位要素を求める。測量機10を用いて概観画像内の任意の測点Q1、Q2、Q3を測定する。デジタルスチルカメラ20の位置・傾き、及び内部定位要素から測点Q1、Q2、Q3に対応する位置を概観画像上に表示するとともに、その対応を記録媒体に記録する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

測量情報が基準とする座標系と測点を含む測量現場の概観画像との間の位置関係を算出する位置関係を算出する位置関係算出手段と、前記概観画像内において任意に指定される複数の基準点の測量情報と、前記基準点の前記概観画像上の位置とから、前記概観画像を撮影したカメラの内部定位要素を算出する内部標定手段と、前記位置関係及び前記内部定位要素から、前記測点の測量情報と前記測点に対応する前記概観画像上の位置に関する位置情報とを対応付ける対応付手段とを備えることを特徴とする測量システム。

IPC (3)：

G01C15/00 , G01C11/02 , G03B15/00

FI (4)：

G01C15/00 103A , G01C15/00 103D , G01C11/02 , G03B15/00 T

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

画像形成装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-100669 Applicant：株式会社トプコン
写真測量用カメラ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-013233 Applicant：旭光学工業株式会社
計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-143445 Applicant：大成建設株式会社

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