Pat
J-GLOBAL ID：200903055184566600
散乱吸収体の内部特性分布の計測方法及び装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998144300
Publication number (International publication number)：1999337476
Application date： May. 26, 1998
Publication date： Dec. 10, 1999
Summary：
【要約】【課題】 生体などの不均一系の散乱吸収体について適用した場合であっても吸収成分についてより高い精度の計測が可能な方法及び装置を提供すること。【解決手段】 被計測媒体中に光を入射するステップと、被計測媒体内部を透過した光を検出するステップと、光入射位置と光検出位置との組み合わせ毎に所定パラメータの測定値を取得するステップと、吸収係数の基準値を設定するステップと、光入射位置と光検出位置との組み合わせ毎に前記パラメータの推定値を求めるステップと、各ボクセルにおける重み関数をマイクロ・ベア・ランバート則に基づいて求めるステップと、前記パラメータの測定値と推定値と重み関数に基づいて各ボクセルにおける吸収係数の偏差を算出するステップと、各ボクセルにおける吸収係数の絶対値を算出するステップとを含むことを特徴とする、散乱吸収体の内部特性分布の計測方法。
Claim (excerpt)：
散乱吸収体である被計測媒体中に一以上の光入射位置から順次光を入射する光入射ステップと、前記被計測媒体内部を透過した光を複数の光検出位置で検出する光検出ステップと、検出された各光に基づいて、前記光入射位置と前記光検出位置との組み合わせ毎に前記光の所定パラメータの測定値を取得する測定値取得ステップと、前記被計測媒体の吸収係数の基準値を設定する基準値設定ステップと、前記被計測媒体が全体的に一様な前記吸収係数の基準値を有するとみなして、前記吸収係数の基準値に基づいて、前記光入射位置と前記光検出位置との組み合わせ毎に前記パラメータの推定値を求める推定値算出ステップと、前記吸収係数の基準値を用いて、複数のボクセルに分割された前記被計測媒体の各ボクセルにおける重み関数をマイクロ・ベア・ランバート則に基づいて求める重み関数演算ステップと、前記パラメータの測定値、前記パラメータの推定値及び前記重み関数に基づいて、前記各ボクセルにおける前記吸収係数の基準値に対する吸収係数の偏差を算出する吸収係数偏差算出ステップと、前記吸収係数の基準値及び前記吸収係数の偏差に基づいて前記各ボクセルにおける吸収係数の絶対値を算出して前記被計測媒体における吸収係数の絶対値分布を求める吸収係数絶対値算出ステップと、を含むことを特徴とする、散乱吸収体の内部特性分布の計測方法。
IPC (3)：
G01N 21/17
, G01J 1/04
, G01B 11/00
G01N 21/17 A
, G01J 1/04 M
, G01B 11/00 Z
Cited by applicant (1)
-
吸収物質濃度の空間分布画像化方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-161823
Applicant：株式会社日立製作所
Cited by examiner (1)
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吸収物質濃度の空間分布画像化方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-161823
Applicant：株式会社日立製作所
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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