走査型レーザ顕微鏡

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：奈良武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999079642
Publication number (International publication number)：2000275529
Application date： Mar. 24, 1999
Publication date： Oct. 06, 2000
Summary：

【要約】【課題】標本の特定部位へ発現させる特異現象の経時的変化を、標本の走査画像に関係なく時間的に精度良く測定する。【解決手段】走査型レーザ顕微鏡は標本19の走査画像を得るための第1の走査光学系Aと、標本19の特定の部位に特異現象を発現させるための第2の走査光学系Bとを備える。第2の走査光学系Bからの標本19へのレーザ光の照射を第1の走査光学系Aの走査に同期させることにより、精度良く測定する。

Claim (excerpt)：

標本の走査画像を得るための第1の走査光学系と、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第2の走査光学系とを備えた走査型レーザ顕微鏡において、前記第2の走査光学系からの標本へのレーザ光の照射を前記第1の走査光学系の走査に同期させたことを特徴とする走査型レーザ顕微鏡。

IPC (3)：

G02B 21/00 , G01N 21/64 , G02B 21/18

FI (3)：

G02B 21/00 , G01N 21/64 E , G02B 21/18

F-Term (27)：

2G043AA01 , 2G043CA03 , 2G043DA02 , 2G043EA01 , 2G043FA01 , 2G043FA02 , 2G043FA06 , 2G043GA02 , 2G043GB01 , 2G043GB17 , 2G043GB21 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA07 , 2G043HA09 , 2G043HA11 , 2G043JA03 , 2G043KA07 , 2G043KA09 , 2G043LA01 , 2G043NA05 , 2H052AA07 , 2H052AA09 , 2H052AB06 , 2H052AB26 , 2H052AC34 , 2H052AF02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

浮遊性汚泥処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-015512 Applicant：株式会社イー・エム・エス, 株式会社朝倉工業所
光走査型顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-171833 Applicant：株式会社ニコン
時間分解蛍光検出器およびそれを用いた蛍光分析装置、方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-091453 Applicant：日本分光株式会社

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