Pat
J-GLOBAL ID:200903055232975169
走査型レーザ顕微鏡
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
奈良 武
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999079642
Publication number (International publication number):2000275529
Application date: Mar. 24, 1999
Publication date: Oct. 06, 2000
Summary:
【要約】【課題】 標本の特定部位へ発現させる特異現象の経時的変化を、標本の走査画像に関係なく時間的に精度良く測定する。【解決手段】 走査型レーザ顕微鏡は標本19の走査画像を得るための第1の走査光学系Aと、標本19の特定の部位に特異現象を発現させるための第2の走査光学系Bとを備える。第2の走査光学系Bからの標本19へのレーザ光の照射を第1の走査光学系Aの走査に同期させることにより、精度良く測定する。
Claim (excerpt):
標本の走査画像を得るための第1の走査光学系と、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第2の走査光学系とを備えた走査型レーザ顕微鏡において、前記第2の走査光学系からの標本へのレーザ光の照射を前記第1の走査光学系の走査に同期させたことを特徴とする走査型レーザ顕微鏡。
IPC (3):
G02B 21/00
, G01N 21/64
, G02B 21/18
FI (3):
G02B 21/00
, G01N 21/64 E
, G02B 21/18
F-Term (27):
2G043AA01
, 2G043CA03
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043GB17
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA07
, 2G043HA09
, 2G043HA11
, 2G043JA03
, 2G043KA07
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043NA05
, 2H052AA07
, 2H052AA09
, 2H052AB06
, 2H052AB26
, 2H052AC34
, 2H052AF02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
-
レーザ走査顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-294107
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
光走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-171833
Applicant:株式会社ニコン
-
時間分解蛍光検出器およびそれを用いた蛍光分析装置、方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-091453
Applicant:日本分光株式会社
-
顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-102023
Applicant:株式会社分子バイオホトニクス研究所
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Cited by examiner (4)
-
浮遊性汚泥処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-015512
Applicant:株式会社イー・エム・エス, 株式会社朝倉工業所
-
光走査型顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-171833
Applicant:株式会社ニコン
-
時間分解蛍光検出器およびそれを用いた蛍光分析装置、方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-091453
Applicant:日本分光株式会社
-
顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-102023
Applicant:株式会社分子バイオホトニクス研究所
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