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J-GLOBAL ID:200903055320803726

電子スピン濃度の測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 山下 昭彦 ,  岸本 達人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005230024
Publication number (International publication number):2007046960
Application date: Aug. 08, 2005
Publication date: Feb. 22, 2007
Summary:
【課題】 本発明は、検体を破壊することなく簡便な方法で、ラジカルの電子スピン濃度を測定できる電子スピン濃度の測定方法を提供することを主目的としている。【解決手段】 上記目的を達成するために、本発明は、検体と、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質から形成された筒状の電子スピン濃度測定用冶具と、スピントラップ剤溶液とを用いる電子スピン濃度の測定方法であって、 前記検体の表面に前記電子スピン濃度測定用冶具を設置して前記電子スピン濃度測定用冶具の筒内部に前記スピントラップ剤溶液を添加し、前記検体からラジカルを発生させるラジカル発生処理を行った後、ラジカルがトラップされたスピントラップ剤溶液に対して、電子スピン共鳴法による測定を行うことを特徴とする電子スピン濃度の測定方法を提供する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
検体と、ラジカルを発生せず、かつラジカルを消費しない材質から形成された筒状の電子スピン濃度測定用冶具と、スピントラップ剤溶液とを用いる電子スピン濃度の測定方法であって、 前記検体の表面に前記電子スピン濃度測定用冶具を設置して前記電子スピン濃度測定用冶具の筒内部に前記スピントラップ剤溶液を添加し、前記検体からラジカルを発生させるラジカル発生処理を行った後、ラジカルがトラップされたスピントラップ剤溶液に対して、電子スピン共鳴法による測定を行うことを特徴とする電子スピン濃度の測定方法。
IPC (1):
G01N 24/10
FI (2):
G01N24/10 510A ,  G01N24/10 510S
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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Article cited by the Patent:
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