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J-GLOBAL ID：200903055533158085

障害物検出装置及びその方法

Inventor：
服部 寛

About 服部 寛


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 蔦田 璋子 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999272577
Publication number (International publication number)：2001101420
Application date： Sep. 27, 1999
Publication date： Apr. 13, 2001
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】 車載のステレオカメラを用いて道路面上に存在する障害物を検出し、さらに、その障害物が自車が衝突するまでの時間を計測する。【解決手段】 複数台のTVカメラによりなる画像入力部1からの複数枚の画像を蓄積するための画像蓄積部2と、基準カメラの画像を基準画像としその他を参照画像として、3次元空間中のある面上を基準カメラに対して静止、又は運動する物体の動きの無限遠点に対応した基準画像上の投影点を抽出する特徴抽出部3と、基準画像上の任意の点が道路面上にあると仮定した場合の参照画像上の対応点を算出し、これらの点の輝度差から道路面上に存在しない点を検出する検出部4と、検出した基準画像上における道路面上に存在しない点と、特徴抽出部により抽出した投影点とに基づいて、道路面上に存在しない点を含む障害物が基準カメラに衝突するまでの時間を計算する衝突時間計算部5とを有する。
Claim (excerpt)：
撮像点の異なる少なくとも2画像を入力し、蓄積する画像入力手段と、前記画像入力手段が蓄積した複数の画像のうち一の画像を基準画像とし、他の画像を参照画像として、3次元空間中のある面上を前記基準画像の撮像点に対して相対的に静止、または、運動する物体の動きの無限遠点に対応した前記基準画像上の投影点Uを抽出する特徴抽出手段と、前記基準画像上の任意の点Pが前記面上にあると仮定した場合の前記参照画像上の対応点P’を算出し、これら点Pと点P’の輝度差から前記面上に存在しない点を検出する検出手段と、前記検出手段により検出した前記基準画像上における前記面上に存在しない点と、前記特徴抽出手段により抽出した前記投影点Uとに基づいて、前記面上に存在しない点が前記基準画像の撮像点と一致するまでの時間を計算する衝突時間計算手段とを有することを特徴とする障害物検出装置。
IPC (5)：
G06T 7/20 ,  B60R 21/00 ,  G06T 1/00 ,  G08G 1/16 ,  G01B 11/00
FI (5)：
G08G 1/16 C ,  G01B 11/00 H ,  G06F 15/70 410 ,  B60R 21/00 626 G ,  G06F 15/62 380
F-Term (53)：
2F065AA03 ,  2F065AA24 ,  2F065BB15 ,  2F065CC11 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF05 ,  2F065FF63 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ07 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR06 ,  2F065SS09 ,  5B057AA16 ,  5B057CA13 ,  5B057DA07 ,  5B057DA15 ,  5B057DB03 ,  5B057DC13 ,  5B057DC16 ,  5B057DC34 ,  5B057DC36 ,  5H180AA01 ,  5H180CC04 ,  5H180CC07 ,  5H180LL01 ,  5H180LL07 ,  5H180LL08 ,  5L096CA05 ,  5L096DA02 ,  5L096FA03 ,  5L096FA06 ,  5L096FA10 ,  5L096FA19 ,  5L096FA24 ,  5L096FA33 ,  5L096FA34 ,  5L096FA69 ,  5L096GA08 ,  5L096GA51 ,  5L096HA04 ,  9A001BB06 ,  9A001GG01 ,  9A001HH23 ,  9A001JJ77 ,  9A001KK16
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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