Pat
J-GLOBAL ID：200903055755352041
少なくとも1つの成分および生成する生成物の観点でサンプルを特性付けし、特性付けデータを提供するための2つ以上の技術に基づいた少なくとも1つのサンプルの分析;方法、システムおよび指示プログラム
Inventor：
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,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
朝日奈 宗太
, 秋山 文男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005116310
Publication number (International publication number)：2005308741
Application date： Apr. 13, 2005
Publication date： Nov. 04, 2005
Summary：
【課題】物質評価に関して、少なくとも1つのサンプルを評価する特性付けデータを提供するために、2つ以上の技術を行うことにより得られる測定データをグループ分けする方法を提供する。【解決手段】1つの態様によれば、グループ分けは、各特性付け測定値のズレ(Δm/zi)の少なくとも1つの統計的分布に基づいて行われる。他の態様によれば、グループ分けは、複数の各特性付け測定値(li)の少なくとも1つの集約的特性に基づいて行われる。【選択図】なし
Claim (excerpt)：
少なくとも1つの成分、特にそこに含まれている化学的成分、生物的成分あるいは生物化学的成分、および少なくとも1つの該技術を行うことから生じる生成物に関して、該サンプルを評価する特性化データを提供するために、2つ以上の技術を行うことにより、少なくとも1つのサンプルを分析する方法であって、
a)i)成分を分離するための、あるいは
ii)該第1分析技術あるいは少なくとも1つの第1分析技術を行うことにより生じる生成物を分離するための、あるいは
iii)該第1分析技術あるいは少なくとも1つの第1分析技術を行うことにより生じる成分および生成物を分離するための
少なくとも1つの第1分析技術を行う工程であって、該第1分析技術は、該サンプルに関して、あるいはすでに分離されている成分あるいは生成物に関して行われ、該分離は、該成分あるいは生成物の少なくとも1つの第1識別特性に基づいて行われることを特徴とする工程と、
b)既に分離された、あるいは分離中の成分あるいは生成物に関して、少なくとも1つのさらなる技術を行う工程であって、さらなる技術は、i)少なくとも1度工程a)を行うことにより得られる少なくとも1つの分離、および ii)少なくとも1つのさらなる識別特性のうちの少なくとも1つに基づいて、分離された成分あるいは生成物を特性づけるための少なくとも1つの分析技術および検出技術であることを特徴とする工程からなることを特徴とする方法であり;
少なくとも工程b)において、少なくとも2つの特性付け測定量(スキャン数、質量対電荷比;検出時間、質量対電荷比)と、少なくとも1度工程a)を行うことにより得られる該分離あるいは少なくとも1つの分離を反映する該特性付け測定量の少なくとも1つの第1(スキャン数;検出時間)と、i)少なくとも1度工程a)を行うことにより得られる少なくとも1つの他の分離と ii)該さらなる識別特性あるいはさらなる識別特性の少なくとも1つのうちの少なくとも1つを反映する該特性付け測定量の少なくとも1つのさらなる(質量対電荷比)と言う言葉で該成分あるいは生成物の少なくとも1つの特性付けを表示する測定データを提供する検出ハードウエアを使用することを特徴とし;
該方法は、
c)該特性付け測定量の少なくとも1つの該第1(スキャン数;検出時間)と言う言葉で、該特性付けあるいは少なくとも1つの特性付けを表示する少なくとも1つの各第1特性付け測定値(Ni、ti)と、該特性付け測定量の該少なくとも1つのさらなる(質量対電荷比)と言う言葉で、該特性付けあるいは、少なくとも1つの特性付けを表示する少なくとも1つのさらなる各特性付け測定値(m/zi)とを互いに関連させることにより、検出ハードウエアにより提供される測定データに基づいて、データ組((Ni、m/zi);(ti、m/zi))を提供する工程と、
d)該データ組を、該特性付け測定量の少なくとも1つに対する特性付け測定値に関して、測定値を特性付ける特性付け測定値間隔([m/zION-Δm/zdev、m/zION+Δm/zdev]、[NION-ΔNdev、NION+ΔNdev];[m/zION-Δm/zdev、m/zION+Δm/zdev]、[tION-Δtdev、tION+Δtdev])で、該各間隔は、該成分あるいは生成物の1つの特定物に潜在的に関連して求められるものである測定値間隔にグループ分けする工程とからなり;
該グループ分けが、該成分あるいは生成物の該特定物に関連した真の、あるいは特性的な、あるいは平均の特性付け測定値(m/zION)からの各特性付け測定値(m/zi)のズレ(Δm/zi)の少なくとも1つの統計的分布に基づいて行われることを特徴とし;
さらに該方法は、
e)i)該グループ分けから得られるデータ組の群および ii)該グループ分けから得られた該特性付け測定値の少なくとも1つの間隔([m/zION-Δm/zdev、m/zION+Δm/zdev]、[NION-ΔNdev、NION+ΔNdev];[m/zION-Δm/zdev、m/zION+Δm/zdev]、[tION-Δtdev、tION+Δtdev])の少なくとも1つを反映しあるいは包含するデータの貯蔵、表示および印刷あるいはデータの可視化の少なくとも1つの工程と;
f)i)該グループ分けから得られるデータ組の群および ii)該グループ分けから得られた該特性付け測定値の少なくとも1つの間隔([m/zION-Δm/zdev、m/zION+Δm/zdev]、[NION-ΔNdev、NION+ΔNdev];[m/zION-Δm/zdev、m/zION+Δm/zdev]、[tION-Δtdev、tION+Δtdev])の少なくとも1つに基づいて、あるいは工程e)により貯蔵され、表示されあるいは印刷されたデータあるいは可視化に基づいて、前記少なくとも1つのサンプルの解析あるいは前記成分あるいは生成物の少なくとも1つ解析をする工程の少なくとも1つからさらになることを特徴とする方法。
IPC (3)：
G01N30/86
, G01N27/62
, G01N30/72
G01N30/86 G
, G01N30/86 L
, G01N27/62 D
, G01N30/72 C
2G041CA01
, 2G041DA05
, 2G041EA04
, 2G041LA07
, 2G041LA12
, 2G041LA20
Cited by examiner (2)
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化学品混合物中の化合物を同定する方法
Gazette classification：公表公報
Application number：特願2000-576472
Applicant：ネオジェネシス・ドラッグ・ディスカバリー・インコーポレイテッド
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質量分析方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平11-199856
Applicant：日本電子株式会社
Article cited by the Patent：
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