回路表示装置及び回路表示方法及び回路表示プログラム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：岩橋文雄 , 坂口智康 , 内藤浩樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004143475
Publication number (International publication number)：2005327021
Application date： May. 13, 2004
Publication date： Nov. 24, 2005
Summary：

【課題】半導体集積回路設計における回路の動作不良の原因となる寄生容量値と寄生抵抗値の発生個所を視覚的に理解しやすく表示する半導体表示装置を提供する。【解決手段】物理形状情報と着目配線情報と寄生容量・抵抗情報を読み込み、簡易形状データ生成手段215により、表示対象回路における着目配線をXY座標平面上で直線状に変形する座標変換を行い、簡易形状データを生成し、相対位置データ生成手段216により、着目配線との相対的な位置が保存されるように寄生容量・抵抗の原因となる配線等の座標も変換し、相対位置データを生成し、簡易形状データと相対位置データを表示することにより、寄生容量・抵抗の所在を効果的に表示することを可能とする。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

半体集積回路の配線パターンを表示する回路表示装置であって、半導体集積回路に含まれる配線要素の各配線層における位置及び前記配線要素の所在する配線層を示すデータである物理形状情報と、表示対象となる半導体集積回路の各配線層の基盤層からの距離を示すデータである配線構造情報と、寄生容量、寄生抵抗のうち少なくとも一つの前記半導体集積回路中の所在位置を示すデータである寄生・容量抵抗情報とを読み込む入力手段と、前記物理形状情報と前記配線構造情報から、前記半導体集積回路中の特定配線に含まれる配線要素の三次元座標系における座標値である配線要素座標値を抽出した後、前記特定配線を垂直方向から見た形状が直線状となるように前記配線要素座標値を変換した簡易形状データを生成する簡易形状データ生成手段と、関連寄生容量・抵抗情報と前記物理形状情報から容量または寄生抵抗の所在位置を示す三次元の座標値である寄生容量・抵抗座標値を抽出し、前記特定配線との相対的な位置関係が保存されるように前記寄生容量・抵抗座標値を変換した相対位置データを生成する相対位置データ生成手段と、前記簡易形状データと前記相対位置データを画像として表示する表示手段を備えることを特徴とする回路表示装置。

IPC (2)：

G06F17/50 , H01L21/82

FI (3)：

G06F17/50 672W , G06F17/50 666L , H01L21/82 C

F-Term (15)：

5B046AA08 , 5B046BA06 , 5B046HA03 , 5F064EE08 , 5F064EE16 , 5F064EE17 , 5F064EE23 , 5F064EE42 , 5F064EE43 , 5F064HH01 , 5F064HH07 , 5F064HH12 , 5F064HH14 , 5F064HH15 , 5F064HH17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

レイアウトパターン自動圧縮装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-082966 Applicant：株式会社東芝

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